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原文传递 一种O形密封圈多因子老化试验平台和老化试验方法
专利名称: 一种O形密封圈多因子老化试验平台和老化试验方法
摘要: 本发明公开了一种O形密封圈多因子老化试验平台及老化试验方法,所述老化试验平台包括老化罐、与老化罐配套使用的智能老化箱和超温保护器;老化罐包括至少1个法兰组、底座和顶盖,法兰组内设置有安装O形密封圈的密封槽,智能老化箱包括箱体、电源开关、升温系统、盐雾系统、鼓风系统和控制系统;超温保护器包括与之相连的测温探头,超温保护器位于智能老化箱与外接电源之间。本试验平台结构简单、运行安全,可在热、挤压、被密封气体、湿、盐、表面涂覆物等多因子条件下,同时对多个O形密封圈进行老化,老化后可以在不分离O形密封圈和法兰的情况下测量O形密封圈的泄漏率,对O形密封圈的寿命预测具有重要意义。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 广东;44
申请人: 华南理工大学
发明人: 张智敏;郝艳捧;彭家豪;阳林;高超;周福升;王国利;李立浧
专利状态: 有效
申请日期: 2019-10-31T00:00:00+0800
发布日期: 2019-12-24T00:00:00+0800
申请号: CN201911056970.2
公开号: CN110608995A
代理机构: 广州粤高专利商标代理有限公司
代理人: 何淑珍;隆翔鹰
分类号: G01N17/00(2006.01);G;G01;G01N;G01N17
申请人地址: 510640 广东省广州市天河区五山路381号
所属类别: 发明专利
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