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原文传递一种毫米波段液晶材料测试系统

专利名称：	一种毫米波段液晶材料测试系统
摘要：	本实用新型涉及一种毫米波段液晶材料测试系统，解决的是毫米波段液晶材料测试无法测试响应时间的技术问题，通过采用基于液晶材料的电感耦合方形谐振环整体结构，通过同轴馈电接口构成电感耦合方形谐振环整体结构的输入端口与输出端口；所述电感耦合方形谐振环整体结构的输入端口连接有T型偏置器的RF&DC端口，T型偏置器的DC端口连接有电源，T型偏置器的RF端口连接有矢量网络分析仪；所述电源还依次连接有函数发生器、数字示波器，数字示波器的另一接口依次通过RF检波器、高通滤波器后连接到电感耦合方形谐振环整体结构的输出端口的技术方案，较好的解决了该问题，可用于毫米波段液晶材料测试中。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	四川;51
申请人：	电子科技大学
发明人：	蒋迪;陈健;李潇雨
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-12T00:00:00+0800
发布日期：	2019-12-24T00:00:00+0800
申请号：	CN201920309580.0
公开号：	CN209841733U
代理机构：	成都玖和知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	胡琳梅
分类号：	G01N22/00(2006.01);G;G01;G01N;G01N22
申请人地址：	611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
所属类别：	实用新型