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基于毫米波的材料辐射率测试方法及装置
| 专利名称： | 基于毫米波的材料辐射率测试方法及装置 |
| 摘要： | 本发明公开一种基于毫米波的材料辐射率测试方法及装置。方法包括(10)高温材料测量：采用毫米波测量黑体材料的辐射特性及温度；(20)低温材料测量：采用毫米波测量液氮的辐射特性及温度；(30)目标材料测量：采用毫米波测量目标材料的辐射特性及温度；(40)天线温度定标：利用黑体材料温度和液氮温度定标天线温度；(50)辐射亮温反演：根据天线温度，反演得到被测目标材料的辐射率。装置包括3mm/8mm波段天线(1)、射频低噪放(2)、检波器(3)、低频放大器(4)、温度计模块(5)、定标装置(6)、数据处理模块(7)。本发明的方法及装置，系统体积小、操作简单、测量快速、准确。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 南京理工大学 |
| 发明人： | 张光锋;张琪;于畅畅;高远 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2018-12-26T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-04-23T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201811596076.X |
| 公开号： | CN109668910A |
| 代理机构： | 南京理工大学专利中心 |
| 代理人： | 吴茂杰 |
| 分类号： | G01N22/00(2006.01);G;G01;G01N;G01N22 |
| 申请人地址： | 210094 江苏省南京市孝陵卫200号 |
| 主权项： | 1.一种基于毫米波的材料辐射率测试方法，其特征在于，包括如下步骤： (10)高温材料测量：采用毫米波，测量黑体材料的辐射特性及温度； (20)低温材料测量：采用毫米波，测量液氮的辐射特性及温度； (30)目标材料测量：采用毫米波，测量目标材料的辐射特性及温度； (40)天线温度定标：根据定标方程，利用黑体材料温度和液氮温度定标天线温度； (50)辐射亮温反演：根据定标后的天线温度，反演得到辐射亮温，从而得到被测目标材料的辐射率。 2.根据权利要求1所述的材料辐射率测试方法，其特征在于：所述毫米波由毫米波辐射计提供。 3.根据权利要求2所述的材料辐射率测试方法，其特征在于：所述毫米波辐射计采用3mm/8mm波段天线。 4.一种基于毫米波的材料辐射率测试装置，其特征在于： 包括3mm/8mm波段天线(1)、射频低噪放(2)、检波器(3)、低频放大器(4)、温度计模块(5)、定标装置(6)、数据处理模块(7)； 所述3mm/8mm波段天线(1)对准装载被测目标材料、高低温定标材料的特制保温桶(8)，其输出端与射频低噪放(2)的输入端相连，所述检波器(3)的输入端与射频低噪放(2)的输出端相连，其输出端与低频放大器(4)的输入端相连，所述定标装置(6)的第一输入端与低频放大器(4)的输出端相连，其第二输入端与温度计模块(5)的输出端相连，所述温度计模块(5)的输入端与装载被测目标材料、高低温定标材料的特制保温桶(8)相连，所述定标装置(6)的输出端与数据处理模块(7)的输入端相连。 5.根据权利要求4所述的材料辐射率测试装置，其特征在于： 所述射频低噪放(2)的增益为35dB。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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