详情

原文传递探伤设备的性能评价方法、装置及电子设备

专利名称：	探伤设备的性能评价方法、装置及电子设备
摘要：	本申请公开了一种探伤设备的性能评价方法、装置及电子设备，涉及设备质量评价技术领域。其中，所述方法基于灵敏度、信噪比、准确性、稳定性及检测盲区在缺陷检测过程中的重要性，同时将待评价探伤设备的灵敏度参数、信噪比参数、准确性参数、稳定性参数及检测盲区参数等必要性能参数与预设的性能指标进行对比，以判断待评价探伤设备的各项必要性能是否满足性能指标；然后，在上述各必要性能参数中有至少一项必要性能不满足所述性能指标时，即判定待评价探伤设备不合格。通过该方法，提高了评价项目的完整性，进而提高了探伤设备性能评价结果的准确性和科学性。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	河北;13
申请人：	首钢京唐钢铁联合有限责任公司
发明人：	魏运飞;慕文杰;黄毅;贾冠;何元春;狄国标;张学峰;徐海卫;冯博;马国金
专利状态：	有效
申请日期：	2019-09-05T00:00:00+0800
发布日期：	2019-12-27T00:00:00+0800
申请号：	CN201910834701.8
公开号：	CN110618201A
代理机构：	北京华沛德权律师事务所
代理人：	马苗苗
分类号：	G01N29/30(2006.01);G;G01;G01N;G01N29
申请人地址：	063200 河北省唐山市曹妃甸工业区
主权项：	1.一种探伤设备的性能评价方法，其特征在于，应用于电子设备，所述方法包括：获取待评价探伤设备的必要性能参数，所述必要性能参数包括灵敏度参数、信噪比参数、准确性参数、稳定性参数及检测盲区参数；将所述必要性能参数与预设的性能指标进行对比，以判断所述待评价探伤设备的各项必要性能是否满足所述性能指标；若所述必要性能参数中有至少一项必要性能不满足所述性能指标，则判定所述待评价探伤设备不合格。 2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在判定所述待评价探伤设备合格时，获取所述待评价探伤设备的综合性能参数，所述综合性能参数包括测量精度参数、响应时间参数及探头间重叠率参数；根据预设的测量精度指标、响应时间指标和探头间重叠率指标分别判定所述待评价探伤设备的测量精度、响应时间和探头间重叠率是否合格；基于所述测量精度、响应时间和探头间重叠率的合格情况，以及所述测量精度、响应时间和探头间重叠率分别对应的预设权重，对所述待评价探伤设备的综合性能进行评分，得到所述待评价探伤设备的综合性能参数评分结果；将所述综合性能参数评分结果与预设的综合性能指标进行对比；若所述综合性能参数评分结果小于所述综合性能指标，则判定所述待评价探伤设备不合格。 3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述灵敏度参数包括灵敏度、灵敏度均匀性、灵敏度余量、扫查灵敏度与静态灵敏度之间的差值，所述准确性参数包括漏报率、误报率，所述稳定性参数包括灵敏度漂移量、信噪比漂移量、灵敏度余量漂移量，所述检测盲区参数包括纵向边缘盲区尺寸、前端和后端盲区尺寸、上下表面盲区尺寸；所述将所述必要性能参数与预设的性能指标进行对比，以判断所述待评价探伤设备的各项必要性能是否满足所述性能指标的步骤，包括：在所述灵敏度、灵敏度均匀性、灵敏度余量、扫查灵敏度与静态灵敏度之间的差值中有至少一项参数不满足预设的性能指标时，判定所述待评价探伤设备的灵敏度不合格；在所述漏报率、误报率中有至少一项参数不满足预设的性能指标时，判定所述待评价探伤设备的准确性不合格；在所述灵敏度漂移量、信噪比漂移量、灵敏度余量漂移量中有至少一项参数不满足预设的性能指标时，判定所述待评价探伤设备的稳定性不合格；在所述纵向边缘盲区尺寸、前端和后端盲区尺寸、上下表面盲区尺寸中有至少一项参数不满足预设的性能指标时，判定所述待评价探伤设备的检测盲区不合格。 4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述测量精度参数包括尺寸测量精度、缺陷定位精度、缺陷定量精度，所述响应时间参数包括检测时间、信号处理时间；所述根据预设的测量精度指标、响应时间指标和探头间重叠率指标分别判定所述待评价探伤设备的测量精度、响应时间和探头间重叠率是否合格的步骤，包括：在所述尺寸测量精度、缺陷定位精度、缺陷定量精度中有至少一项参数不满足预设的测量精度指标时，判定所述待评价探伤设备的测量精度不合格；在所述检测时间、信号处理时间中有至少一项参数不满足预设的响应时间指标时，判定所述待评价探伤设备的响应时间不合格。 5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述获取待评价探伤设备的必要性能参数的步骤之前，所述方法还包括对所述性能指标进行配置的步骤，该步骤包括：将所述灵敏度的合格指标配置为：小于等于3mm；其中，所述灵敏度为设备所能检测到的最小缺陷的尺寸；将所述灵敏度均匀性的合格指标配置为：小于等于6dB；其中，所述灵敏度均匀性为待评价探伤设备对测试件进行检测得到的回波高度的最大波动差值；将所述灵敏度余量的合格指标配置为：大于等于40dB；将所述扫查灵敏度与静态灵敏度之间的差值的合格指标配置为：小于等于12dB；将所述信噪比参数的合格指标配置为：大于等于18dB；将所述漏报率及误报率的合格指标配置为：小于等于1％；将所述灵敏度漂移量的合格指标配置为：连续工作8小时前后的灵敏度差值小于等于6dB；将所述信噪比漂移量的合格指标配置为：连续工作8小时前后的信噪比差值小于等于6dB；将所述灵敏度余量漂移量的合格指标配置为：连续工作8小时前后的灵敏度余量差值小于等于6dB，且连续工作8小时后的灵敏度余量大于等于40dB；将所述纵向边缘盲区尺寸的合格指标配置为：在测试件剪切后小于等于5mm，在未剪切时小于等于20mm；其中，所述测试件的平底孔缺陷直径为5mm；将所述前端和后端盲区尺寸的合格指标配置为：在测试件剪切后小于等于20mm，在未剪切时小于等于200mm；其中，所述测试件的平底孔缺陷直径为5mm；将所述上下表面盲区尺寸的合格指标配置为：小于等于1.5mm；将所述尺寸测量精度的合格指标配置为：长度方向小于等于0.1％，宽度方向小于等于0.1％；其中，所述尺寸测量精度为测试件的测量尺寸与实际尺寸的差值；将所述缺陷定位精度的合格指标配置为：长度方向小于等于10mm，宽度方向小于等于5mm；其中，所述缺陷定位精度为测试件中缺陷所在位置的测量尺寸与实际尺寸的差值；将所述缺陷定量精度的合格指标配置为：缺陷长度方向±3mm；缺陷宽度方向±5mm；其中，所述缺陷定量精度为测试件中的缺陷的测量尺寸与实际尺寸的差值；将所述检测时间的合格指标配置为：小于等于40S；其中，所述检测时间为测试件对中时间、探头接触和离开时间、扫查时间的总和，所述测试件的长度为12m；将所述信号处理时间的合格指标配置为：小于等于10S；其中，所述信号处理时间为运算时间、判定时间、存储时间的总和；将所述探头间重叠率参数的合格指标配置为：大于等于5％；其中，所述探头间重叠率为探头间有效声场的重叠比例。 6.一种探伤设备的性能评价装置，其特征在于，应用于电子设备，所述装置包括：第一获取模块，用于获取待评价探伤设备的必要性能参数，所述必要性能参数包括灵敏度参数、信噪比参数、准确性参数、稳定性参数及检测盲区参数；第一对比模块，用于将所述必要性能参数与预设的性能指标进行对比，以判断所述待评价探伤设备的各项必要性能是否满足所述性能指标；第一判定模块，用于在所述必要性能参数中有至少一项必要性能不满足所述性能指标时，判定所述待评价探伤设备不合格。 7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括；第二获取模块，用于在所述第一判定模块判定所述待评价探伤设备合格时，获取所述待评价探伤设备的综合性能参数，所述综合性能参数包括测量精度参数、响应时间参数及探头间重叠率参数；第二对比模块，用于根据预设的测量精度指标、响应时间指标和探头间重叠率指标分别判定所述待评价探伤设备的测量精度、响应时间和探头间重叠率是否合格；评分模块，用于基于所述测量精度、响应时间和探头间重叠率的合格情况，以及所述测量精度、响应时间和探头间重叠率分别对应的预设权重，对所述待评价探伤设备的综合性能进行评分，得到所述待评价探伤设备的综合性能参数评分结果；第三对比模块，用于将所述综合性能参数评分结果与预设的综合性能指标进行对比；第二判定模块，用于在所述综合性能参数评分结果小于所述综合性能指标时，判定所述待评价探伤设备不合格。 8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述灵敏度参数包括灵敏度、灵敏度均匀性、灵敏度余量、扫查灵敏度与静态灵敏度之间的差值，所述准确性参数包括漏报率、误报率，所述稳定性参数包括灵敏度漂移量、信噪比漂移量、灵敏度余量漂移量，所述检测盲区参数包括纵向边缘盲区尺寸、前端和后端盲区尺寸、上下表面盲区尺寸；所述第一对比模块具体用于：在所述灵敏度、灵敏度均匀性、灵敏度余量、扫查灵敏度与静态灵敏度之间的差值中有至少一项参数不满足预设的性能指标时，判定所述待评价探伤设备的灵敏度不合格；在所述漏报率、误报率中有至少一项参数不满足预设的性能指标时，判定所述待评价探伤设备的准确性不合格；在所述灵敏度漂移量、信噪比漂移量、灵敏度余量漂移量中有至少一项参数不满足预设的性能指标时，判定所述待评价探伤设备的稳定性不合格；在所述纵向边缘盲区尺寸、前端和后端盲区尺寸、上下表面盲区尺寸中有至少一项参数不满足预设的性能指标时，判定所述待评价探伤设备的检测盲区不合格。 9.如权利要求8所述的装置，其特征在于，所述测量精度参数包括尺寸测量精度、缺陷定位精度、缺陷定量精度，所述响应时间参数包括检测时间、信号处理时间；所述第二对比模块具体用于：在所述尺寸测量精度、缺陷定位精度、缺陷定量精度中有至少一项参数不满足预设的测量精度指标时，判定所述待评价探伤设备的测量精度不合格；在所述检测时间、信号处理时间中有至少一项参数不满足预设的响应时间指标时，判定所述待评价探伤设备的响应时间不合格。 10.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括存储器及处理器，所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器用于加载执行所述计算机程序，以使所述电子设备执行如权利要求1-5中任一项所述的方法。
所属类别：	发明专利