专利名称: |
一种快速判断FeSiAl材料磁导率强弱的方法 |
摘要: |
本发明公开一种快速判断FeSiAl材料磁导率强弱的方法,步骤为:采用X射线衍射仪对FeSiAl材料进行物相分析,获得FeSiAl材料的XRD图谱,根据XRD图谱中DO3相和BCC相的特征峰强度来判断FeSiAl材料的磁导率强弱。当FeSiAl材料的XRD图谱同时满足特征(1)DO3相和BCC相对应的所有特征峰度都存在,和(2)所有特征峰的半峰宽都小于1时,通过比较DO3相主峰与BCC相主峰的强度可以判断FeSiAl材料的磁导率强度为小于50H/m、50H/m~100H/m之间或大于100H/m。本发明提供了一种全新的FeSiAl材料磁导率强弱判断方法,通过FeSiAl材料的XRD特征谱来判断其磁导率强弱,该方法简单易行,大大降低了测试的成本,提升了研发速率,为本领域的研发人员提供了敏捷研发指导。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
江苏;32 |
申请人: |
南京宁智高新材料研究院有限公司 |
发明人: |
余建明;鲁振达 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-09-27T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-12-27T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910924087.4 |
公开号: |
CN110618151A |
代理机构: |
南京苏高专利商标事务所(普通合伙) |
代理人: |
吴飞 |
分类号: |
G01N23/207(2006.01);G;G01;G01N;G01N23 |
申请人地址: |
211100 江苏省南京市江宁区东山国际企业总部园东麒路6号 |
主权项: |
1.一种快速判断FeSiAl材料磁导率强弱的方法,其特征在于,包括如下步骤:采用X射线衍射仪对FeSiAl材料进行物相分析,获得FeSiAl材料的XRD图谱,根据XRD图谱中DO3相和BCC相的特征峰强度来判断FeSiAl材料的磁导率强弱。 2.根据权利要求1所述的快速判断FeSiAl材料磁导率强弱的方法,其特征在于,当FeSiAl材料的XRD图谱具备如下特征时,说明其磁导率大于100H/m: (1)具有DO3相和BCC相对应的所有特征峰; (2)所有特征峰的半峰宽均小于1°; (3)DO3相的主峰强度与BCC相主峰强度的比值大于2。 3.根据权利要求1所述的快速判断FeSiAl材料磁导率强弱的方法,其特征在于,当FeSiAl材料的XRD图谱具备如下特征时,说明其磁导率为50~100H/m: (1)具有DO3相和BCC相对应的所有特征峰; (2)所有特征峰的半峰宽均小于1°; (3)DO3相的主峰强度与BCC相主峰强度的比值为1~2。 4.根据权利要求1所述的快速判断FeSiAl材料磁导率强弱的方法,其特征在于,当FeSiAl材料的XRD图谱满足下述特征(1)~(3)时、或者不满足下述特征(1)或(2)时,说明其磁导率小于50H/m: (1)具有DO3相和BCC相对应的所有特征峰; (2)所有特征峰的半峰宽均小于1°; (3)DO3相的主峰强度与BCC相主峰强度的比值小于1。 5.根据权利要求2~4中任一项所述的快速判断FeSiAl材料磁导率强弱的方法,其特征在于,所述DO3相对应的特征峰角度包括25°~27°、30°~32°和65°~67°,其中主峰角度为65°~67°;所述BCC相对应的特征峰角度包括44°~46°、53°~55°、56°~57°,其中主峰角度为44°~46°。 |
所属类别: |
发明专利 |