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原文传递电子元件检测设备

专利名称：	电子元件检测设备
摘要：	本发明提供了一种电子元件检测设备，用于对一电子元件进行检测，包括一第一输送轨道、一第一转盘、一第一影像获取装置、一第二影像获取装置、一第三影像获取装置、一第二转盘以及一第四影像获取装置。第一转盘绕一第一轴旋转。当该第一转盘输送该电子元件时，该第一影像获取装置、该第二影像获取装置以及该第三影像获取装置获取该电子元件的影像。第二转盘绕一第二轴旋转，该第二轴垂直于该第一轴。当该第二转盘输送该电子元件时，该第四影像获取装置获取该电子元件的影像。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	中国台湾;71
申请人：	华邦电子股份有限公司
发明人：	傅廷明
专利状态：	有效
申请日期：	2018-06-21T00:00:00+0800
发布日期：	2019-12-31T00:00:00+0800
申请号：	CN201810643239.9
公开号：	CN110632093A
代理机构：	北京三友知识产权代理有限公司
代理人：	王涛;刘淼
分类号：	G01N21/95(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	中国台湾台中市
主权项：	1.一种电子元件检测设备，其特征在于，用于对一电子元件进行检测，包括：一第一输送轨道；一第一转盘，绕一第一轴旋转，该第一转盘用于从该第一输送轨道取出该电子元件；一第一影像获取装置，当该第一转盘输送该电子元件时，该第一影像获取装置获取该电子元件的一第一面的影像；一第二影像获取装置，当该第一转盘输送该电子元件时，该第二影像获取装置获取该电子元件的一第二面的影像；一第三影像获取装置，当该第一转盘输送该电子元件时，该第三影像获取装置获取该电子元件的一第三面的影像，该第二面与该第三面相反，该第一面垂直于该第二面以及该第三面；一第二转盘，绕一第二轴旋转，该第二轴垂直于该第一轴，该第二转盘用于从该第一转盘取出该电子元件；一第四影像获取装置，当该第二转盘输送该电子元件时，该第四影像获取装置获取该电子元件的一第四面的影像，该第四面与该第一面相反；以及一第二输送轨道，该第二转盘用于将该电子元件置于该第二输送轨道。 2.根据权利要求1所述的电子元件检测设备，其特征在于，该第一转盘在一第一平面上旋转，该第二转盘在一第二平面上旋转，该第一平面垂直于该第二平面，在该第二平面上的投影中，该第一转盘沿该第二转盘的径向配置。 3.根据权利要求2所述的电子元件检测设备，其特征在于，还包括一第五影像获取装置以及一第六影像获取装置，当该第二转盘输送该电子元件时，该第五影像获取装置获取该电子元件的一第五面的影像，该第六影像获取装置获取该电子元件的一第六面的影像，该第五面与该第六面相反，该第五面垂直于该第一面以及该第二面。 4.根据权利要求1所述的电子元件检测设备，其特征在于，该第一转盘在一第一平面上旋转，该第二转盘在一第二平面上旋转，该第一平面垂直于该第二平面，在该第二平面上的投影中，该第一转盘沿该第二转盘的切线配置。 5.根据权利要求1所述的电子元件检测设备，其特征在于，该第一转盘包括多个第一吸嘴，该第一吸嘴沿该第一转盘的周向排列于该第一转盘的一侧壁，并沿一第一吸取方向吸取该电子元件，该第一吸取方向沿该第一转盘的径向延伸。 6.根据权利要求5所述的电子元件检测设备，其特征在于，该第二转盘包括多个第二吸嘴，该第二吸嘴沿该第二转盘的周向排列于该第二转盘的一底面，并沿一第二吸取方向吸取该电子元件，该第二吸取方向平行于该第二轴。 7.根据权利要求6所述的电子元件检测设备，其特征在于，每一第一吸嘴吸附该电子元件的该第四面，每一第二吸嘴吸附该电子元件的该第一面。 8.根据权利要求7所述的电子元件检测设备，其特征在于，该电子元件包括多个针脚，该针脚形成于该第二面以及该第三面。 9.根据权利要求7所述的电子元件检测设备，其特征在于，还包括一电性检测站以及一承载盘组，该电子元件经过该电性检测站的检测之后，被置于该承载盘组，并从该承载盘组移送至该第一输送轨道。 10.根据权利要求9所述的电子元件检测设备，其特征在于，该电子元件经过该电性检测站的检测之后，被置于该承载盘组，该承载盘组翻转180度以翻转该电子元件，接着，该电子元件从该承载盘组移送至该第一输送轨道。
所属类别：	发明专利