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原文传递一种背景和样品信号同步测量的太赫兹时域光谱系统

专利名称：	一种背景和样品信号同步测量的太赫兹时域光谱系统
摘要：	本实用新型公开一种背景和样品信号同步测量的太赫兹时域光谱系统，包括飞秒激光器、斩波器、M1分束镜、THz发射器、H1抛物面镜、N1反射镜、N2反射镜、H2抛物面镜、M2分束镜、延迟模块、Q1 THz探测器、THz分束镜、H3抛物面镜、Q2 THz探测器、锁相放大器和计算机，延迟模块与计算机之间、斩波器与锁相放大器之间、Q1 THz探测器与锁相放大器之间、Q2 THz探测器与锁相放大器之间、锁相放大器与计算机之间采用数据线连接，其余部分为光路部分，采用自由空间传输或光纤耦合传输。通过设计同步测量背景信号和样品信号的光路，使得太赫兹背景信号能够真实反映样品测试过程中的背景波动情况，消除测量过程中背景信号波动对测量结果的影响。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	四川;51
申请人：	中国工程物理研究院计量测试中心
发明人：	徐德;丁宇洁;王艳茹;冉铮惠
专利状态：	有效
申请日期：	2018-04-26T00:00:00+0800
发布日期：	2019-04-26T00:00:00+0800
申请号：	CN201820605681.8
公开号：	CN208795653U
代理机构：	北京市盈科律师事务所
代理人：	姜智慧
分类号：	G01N21/3586(2014.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	621000 四川省绵阳市绵山路64号
主权项：	1.一种背景和样品信号同步测量的太赫兹时域光谱系统，其特征在于，包括飞秒激光器（1）、斩波器（2）、M1分束镜（3）、THz发射器（4）、H1抛物面镜（5）、N1反射镜（6）、N2反射镜（7）、H2抛物面镜（8）、M2分束镜（9）、延迟模块（10）、Q1 THz探测器（11）、THz分束镜（12）、H3抛物面镜（13）、Q2 THz探测器（14）、锁相放大器（15）和计算机（16），所述延迟模块（10）与计算机（16）之间、斩波器（2）与锁相放大器（15）之间、Q1 THz探测器（11）与锁相放大器（15）之间、Q2 THz探测器（14）与锁相放大器（15）之间、锁相放大器（15）与计算机（16）之间采用数据线连接，其余部分为光路部分，采用自由空间传输或光纤耦合传输；飞秒激光经所述M1分束镜（3）分为A1泵浦光和A2探测光，所述A2探测光穿过延迟模块（10）后经M2分束镜（9）一路传递给Q2 THz探测器（14），另一路经N1反射镜（6）和N2反射镜（7）传递给Q1探测器（11）；所述A1泵浦光进入THz发射器（4）后激发THz发射器（4）产生太赫兹波，经H1抛物面镜（5）准直后再由THz分束镜（12）进行光路分束，一路为样品测量光路经H3抛物面镜（13）进入Q2THz探测器（14），另一路为背景测量光路经H2抛物面镜（8）进入Q1 THz探测器（11）。 2.根据权利要求1所述的一种背景和样品信号同步测量的太赫兹时域光谱系统，其特征在于：所述THz发射器（4）选用光电导天线，主要用于在飞秒脉冲激光激励下产生太赫兹辐射波。 3.根据权利要求1所述的一种背景和样品信号同步测量的太赫兹时域光谱系统，其特征在于：所述Q1 THz探测器（11）、Q2 THz探测器（14）选择ZnTe晶体，主要用于太赫兹波探测。 4.根据权利要求1所述的一种背景和样品信号同步测量的太赫兹时域光谱系统，其特征在于：所述延迟模块（10）为机械式的扫描延迟线，用于产生一系列的光程差。
所属类别：	实用新型