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原文传递基于光学的接触角测量系统

专利名称：	基于光学的接触角测量系统
摘要：	本发明涉及一种基于光学的接触角测量系统，包括灯箱(用于安装背景光源)(10)、背景光源(20)、匀光片(30)、可调节大小的光圈(40)、滤光片(50)、微量进样器(60)、自动可升降样品台(70)、图像采集装置(80)、暗室(90)。灯箱置于整个测量系统的一端，灯箱内放置可任意调节光强以及波长的背景光源，用以消除不同波长的光对液滴边界衍射作用的影响。暗室置于整个测量系统的另一端，其中包括微量进样器、自动可升降样品台以及图像采集装置。由匀光片、两组光圈和滤光片组成的光学套用部分置于灯箱与暗室之间，该装置可将光源发出的散射光转化为平行光，有效的降低了由于散射光照射产生模糊液滴边界从而对接触角测量产生的误差。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	天津;12
申请人：	河北工业大学
发明人：	张天;田汉民;戎小莹
专利状态：	有效
申请日期：	2017-10-25T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-03T00:00:00+0800
申请号：	CN201711038782.8
公开号：	CN109709001A
分类号：	G01N13/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N13
申请人地址：	300401 天津市北辰区西平道5340号
主权项：	1.一种光学处理的接触角测量系统，包括：灯箱(10)用于安装背景光源(20)，其中背景光源的光强以及颜色可调，即可改变背景光源的波长。光学套筒，由匀光片(30)、两组光圈(40)以及滤光片构成，其中光圈可调节大小，滤光片可旋转，只允许单一方向光通过。暗室(90)包括微量进样器(60)、自动可升降样品台(70)以及图像采集装置(80)。微量进样器与图像采集装置伸入暗室中，可升降样品台完全置于暗室中，灯箱与暗室分别置于整个系统的两端，由匀光片、光圈和滤光片组成的光学套筒连接。 2.根据权利要求1，一种光学处理的接触角测量系统，其特征在于整个系统可分为三部分，分别是灯箱、光学套筒部分以及暗室，其中灯箱与暗室分别放置于整个系统两端并由光学套筒连接。 3.根据权利要求2，一种光学处理的接触角测量系统，其特征在于位于系统一端的灯箱，在灯箱内放置了可调节光强以及光波长(颜色可变)的背景光源。 4.根据权利要求2，一种光学处理的接触角测量系统，其特征在于位于系统另一端的暗室，自动可升降样品台完全位于其中，微量进样器与图像采集装置嵌于暗室并伸入暗室中，保证暗室内在测量过程中始终处于黑暗。 5.根据权利要求2，一种光学处理的接触角测量系统，其特征在于暗室中的自动可升降样品台，可上下调节，可前后调节位置，同时也可调节样品台倾角。 6.根据权利要求2，一种光学处理的接触角测量系统，其特征在于灯箱与暗室之间的光学套筒，由匀光片、两组光圈以及滤光片组成，顺序依次为匀光片、光圈(两组)、滤光片，其中两组光圈大小可调并且两组光圈可任意调换位置。
所属类别：	发明专利