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一种两相钛合金等轴组织晶粒度的测量方法
| 专利名称： | 一种两相钛合金等轴组织晶粒度的测量方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种两相钛合金等轴组织晶粒度的测量方法，该方法包括：一、选择合适的放大倍数制备两相钛合金等轴组织的金相照片，测量得初生α晶粒的百分含量Vvα；二、以圆或三条方向不同的直线为测量线，采用截点法计算得到初生α晶粒的平均截距l；三、根据初生α晶粒的平均截距l，计算两相钛合金等轴组织的晶粒度级别指数Gα。本发明以圆或三条方向不同的直线为测量线，先采用截点法计算得到初生α晶粒的平均截距，然后计算得到两相钛合金等轴组织的晶粒度级别指数Gα，简化了等轴组织的晶粒度的测定，提高了测定方法的准确性。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 陕西;61 |
| 申请人： | 西部金属材料股份有限公司 |
| 发明人： | 马红征;翟通德;何伟;白新房;王松茂;武晶晶 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2018-12-26T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-05-03T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201811605173.0 |
| 公开号： | CN109709005A |
| 代理机构： | 西安创知专利事务所 |
| 代理人： | 谭文琰 |
| 分类号： | G01N15/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N15 |
| 申请人地址： | 710201 陕西省西安市西安经济技术开发区泾渭工业园西金路15号 |
| 主权项： | 1.一种两相钛合金等轴组织晶粒度的测量方法，其特征在于，该方法包括以下步骤： 步骤一、选择合适的放大倍数制备两相钛合金等轴组织的金相照片，使得金相照片中包含50个以上的初生α晶粒，然后测量得到两相钛合金等轴组织中初生α晶粒的百分含量Vvα；所述初生α晶粒包括球形α晶粒，或者包括球形α晶粒与长条α晶粒； 步骤二、以圆或三条方向不同的直线为测量线，采用截点法计算得到初生α晶粒的平均截距所述以圆为测量线的截点法的具体过程为：在步骤一中制备的金相照片上添加单圆或三个圆，使得单圆的圆周与初生α晶粒产生数目大于35个的截点，三个圆与初生α晶粒产生数目大于50上的截点，然后统计金相照片中与单圆或与三个圆相交和相切的初生α晶粒的数目Nα，得到初生α晶粒的平均截距 公式(1)中，平均截距的单位为mm，L为单圆的周长或三个圆的总周长，单位为mm，M为金相照片的放大倍数； 所述以三个方向不同的直线为测量线的截点法的具体过程为：在步骤一中制备的金相照片上划三条方向不同的直线，使得三条直线与初生α晶粒产生50个以上的截点，然后统计金相照片中与三条直线相交和相切的初生α晶粒的数目Nα′，得到初生α晶粒的平均截距 公式(2)中，平均截距的单位为mm，L′为三条直线的总长度，单位为mm，M为金相照片的放大倍数； 步骤三、根据步骤二中得到的初生α晶粒的平均截距计算两相钛合金等轴组织的晶粒度级别指数Gα： |
| 所属类别： | 发明专利 |
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