专利名称: |
一种检测蜂窝体密度分布的方法 |
摘要: |
本发明公开一种检测蜂窝体内材料密度分布的方法,包括:对含有导电内容物或导电涂层的待测蜂窝体标定X、Y方向和坐标;将第一电极和第二电极分别置于待测蜂窝体的与X、Y坐标相应的上、下表面位置,测定或计算第一电极和第二电极的距离,并通电以测定电极之间的待测蜂窝体的电阻;处理测试结果,得到待测蜂窝体被测点的密度;对待测蜂窝体的不同X、Y坐标处重复进行所述电阻的测定,和所述测试结果的处理,得到蜂窝体内材料密度分布。本发明的方法不对蜂窝造成破坏,属于无损检测方法;方法较为简便,易于实现自动化测试和数据采集;测量较为准确,能满足实际应用的需要。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
中国航发北京航空材料研究院 |
发明人: |
杨程;陈宇滨;禇海荣;任志东;戴圣龙 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-01-18T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-05-10T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910051801.3 |
公开号: |
CN109738331A |
代理机构: |
中国航空专利中心 |
代理人: |
杜永保 |
分类号: |
G01N9/00(2006.01);G;G01;G01N;G01N9 |
申请人地址: |
100095 北京市海淀区北京市81号信箱科技发展部 |
主权项: |
1.一种检测蜂窝体内材料密度分布的方法,包括以下步骤: 对含有导电内容物或导电涂层的待测蜂窝体标定X、Y方向和坐标; 将第一电极和第二电极分别置于待测蜂窝体的与X、Y坐标相应的上、下表面位置,测定或计算第一电极和第二电极的距离,并通电以测定电极之间的待测蜂窝体的电阻; 处理测试结果,得到待测蜂窝体被测点的密度; 对待测蜂窝体的不同X、Y坐标处重复进行所述电阻的测定,和所述测试结果的处理,得到蜂窝体内材料密度分布。 2.按照权利要求1所述的方法,其中所述待测蜂窝体为绝缘材料蜂窝,或者蜂窝材料电阻远大于导电内容物或导电涂层的蜂窝。 3.按照权利要求2所述的方法,其中所述待测蜂窝体为芳纶纸蜂窝。 4.按照权利要求1所述的方法,其中待测蜂窝体标定的X、Y方向位于垂直于蜂窝内壁的平面内。 5.按照权利要求1所述的方法,其中第一电极和第二电极之一面积较大,另一个面积较小,较小电极表面的几何中心点位于所需测定的X、Y坐标处,较大电极覆盖与较小电极覆盖的区域对应的区域。 |
所属类别: |
发明专利 |