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原文传递一种纳米材料密度分布检测仪器

专利名称：	一种纳米材料密度分布检测仪器
摘要：	本实用新型公开了一种纳米材料密度分布检测仪器。该纳米材料密度分布检测仪器包括仪器外壳和位于所述仪器外壳内的检测装置主体：检测装置主体包括沿光束传播路径依次设置的光源模块、样品架和信号采集模块；光源模块用于产生检测光束；样品架用于固定盛有检测溶液的容器；信号采集模块用于对由检测溶液和容器构成的整体进行图像采集，得到图像采集结果。本实用新型实施例提供的纳米材料密度分布检测仪器，通过将检测装置主体设置于仪器外壳内，一方面，可以利用仪器外壳形成暗室，提高检测结果的准确性，另一方面，置于仪器外壳中的检测装置主体还具有便携性，用户可以在多种工况下对纳米材料的密度分布进行检测。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	国家纳米科学中心
发明人：	陈岚;葛广路;翟兆毅;潘乐;祁明群
专利状态：	有效
申请日期：	2019-01-09T00:00:00+0800
发布日期：	2019-09-03T00:00:00+0800
申请号：	CN201920033331.3
公开号：	CN209342564U
代理机构：	北京品源专利代理有限公司
代理人：	孟金喆
分类号：	G01N15/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	100190 北京市海淀区中关村北一条11号
主权项：	1.一种纳米材料密度分布检测仪器，其特征在于，包括仪器外壳和位于所述仪器外壳内的检测装置主体：所述检测装置主体包括沿光束传播路径依次设置的光源模块、样品架和信号采集模块；所述光源模块用于产生检测光束；所述样品架用于固定盛有检测溶液的容器；所述信号采集模块用于对由检测溶液和容器构成的整体进行图像采集，得到图像采集结果。 2.根据权利要求1所述的纳米材料密度分布检测仪器，其特征在于，还包括上位机；所述上位机位于所述仪器外壳外，且与所述信号采集模块连接，用于接收所述图像采集结果并对所述图像采集结果进行分析，以获得分散于所述检测溶液中的纳米材料的密度分布状态。 3.根据权利要求1所述的纳米材料密度分布检测仪器，其特征在于，还包括匀光片；所述匀光片位于所述光源模块和所述样品架之间的光学路径上，用于对所述检测光束进行扩束。 4.根据权利要求3所述的纳米材料密度分布检测仪器，其特征在于，还包括滤光片；所述滤光片位于所述光源模块和所述匀光片之间的光学路径上，用于使透过所述滤光片的检测光束发生衰减。 5.根据权利要求4所述的纳米材料密度分布检测仪器，其特征在于，还包括导轨；所述光源模块与所述导轨固定连接，且所述滤光片、所述匀光片、所述样品架和所述信号采集模块均与所述导轨可活动连接，以使所述滤光片、所述匀光片、所述样品架和所述信号采集模块均可沿所述导轨延伸方向运动。 6.根据权利要求1所述的纳米材料密度分布检测仪器，其特征在于，所述光源模块包括激光器；所述激光器的输出功率连续可调。 7.根据权利要求1所述的纳米材料密度分布检测仪器，其特征在于，所述信号采集模块包括相机。 8.根据权利要求1所述的纳米材料密度分布检测仪器，其特征在于，所述仪器外壳包括外壳本体以及与所述外壳本体配合的外壳盖；当所述外壳本体和所述外壳盖盖合在一起时，所述外壳本体和所述外壳盖形成密闭空间。 9.根据权利要求1所述的纳米材料密度分布检测仪器，其特征在于，所述仪器外壳的材料为金属。
所属类别：	实用新型