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原文传递离子阱质谱仪的质谱测定方法

专利名称：	离子阱质谱仪的质谱测定方法
摘要：	本发明提供了一种离子阱质谱仪的质谱测定方法。该质谱测定方法根据离子阱内待测样品浓度的实际情况，在待测样品开始出峰且浓度未达到最高点时，对后续正式扫描阶段的离子化时间进行动态调整；在待测样品浓度最高点已过去后，对后续正式扫描阶段的离子化时间进行系数增长；并在预扫描离子化时间大于阈值时间时，将后续正式扫描阶段的离子化时间保持为阈值时间不变；进行多个周期的质谱测定，将多个周期的测定结果进行平均。使得每个正式扫描阶段中离子阱内离子数量始终处于比较合适的状态，避免空间电荷效应。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	浙江;33
申请人：	聚光科技(杭州)股份有限公司
发明人：	段炼;马乔;刘立鹏;韩双来
专利状态：	有效
申请日期：	2018-12-31T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-14T00:00:00+0800
申请号：	CN201811651515.2
公开号：	CN109752444A
代理机构：	北京真致博文知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	孙敬文
分类号：	G01N27/62(2006.01);G;G01;G01N;G01N27
申请人地址：	310052 浙江省杭州市滨江区滨安路760号
主权项：	1.一种离子阱质谱仪的质谱测定方法，包括多个周期，每一周期进行一次预扫描阶段和后续的多次正式扫描构成；其特征在于，该质谱测定方法包括以下步骤：首先进行预扫描，并计算预扫描离子化时间；再判断预扫描离子化时间是否不小于一个预设的阈值时间；若满足预扫描离子化时间不小于阈值时间，后续多次正式扫描的离子化时间均保持为阈值时间不变；若不满足，后续第一次正式扫描的离子化时间为预扫描离子化时间，后一次正式扫描的离子化时间在前一次正式扫描的离子化时间的基础上按照缩短系数进行缩短；随后进行后一周期的预扫描与正式扫描或结束。 2.根据权利要求1所述的离子阱质谱仪的质谱测定方法，其特征在于，多个所述缩短系数一致，且所述缩短系数均为小于1的正常数。 3.根据权利要求1所述的离子阱质谱仪的质谱测定方法，其特征在于，多个所述缩短系数不一致，且所述缩短系数均为小于1的正常数。 4.根据权利要求1所述的离子阱质谱仪的质谱测定方法，其特征在于，该质谱测定方法还包括以下步骤：当后一周期的预扫描离子化时间大于前一周期的预扫描离子化时间时，依次进行多次系数增长的正式扫描；第一次正式扫描的离子化时间为本周期的预扫描离子化时间；后一次正式扫描的离子化时间在前一次正式扫描的离子化时间的基础上按照增长系数进行增长。 5.根据权利要求4所述的筛选式飞行时间质谱仪，其特征在于，多个所述增长系数一致，且所述增长系数均为大于1的常数。 6.根据权利要求4所述的离子阱质谱仪的质谱测定方法，其特征在于，多个所述增长系数不一致，且所述增长系数均为大于1的常数。 7.根据权利要求4所述的离子阱质谱仪的质谱测定方法，其特征在于，该质谱测定方法还包括以下步骤：在上述步骤的基础上进行后一周期的预扫描，若预扫描离子化时间大于阈值时间，后续多次正式扫描的离子化时间均保持为阈值时间不变。 8.根据权利要求1-7任一项所述的离子阱质谱仪的质谱测定方法，其特征在于，该质谱测定方法还包括以下步骤：进行多个周期的质谱测定，将多个周期的测定结果进行平均。
所属类别：	发明专利