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原文传递 特定组织状态的质谱测定
专利名称: 特定组织状态的质谱测定
摘要: 本发明涉及根据用空间分辨率采集的质谱信号确定组织学组织切片中特定组织状态和可视化其空间分布。本发明提出了一种方法,通过该方法自动发现具有相似质谱的组织区域,并且进一步提出对这些区域的质谱求和,以便将光谱质量提高到可以更加确定地识别组织变性的已知标志物的程度。具有相似质谱的区域可以大规模互连,但也可以小规模地彼此隔离。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 德国;DE
申请人: 布鲁克道尔顿有限公司
发明人: 瑟伦-奥利弗·戴宁格尔;马丁·许伦贝格
专利状态: 有效
申请日期: 2018-12-14T00:00:00+0800
发布日期: 2019-07-02T00:00:00+0800
申请号: CN201811533314.2
公开号: CN109959700A
代理机构: 北京天昊联合知识产权代理有限公司
代理人: 张娜;顾丽波
分类号: G01N27/64(2006.01);G;G01;G01N;G01N27
申请人地址: 德国不来梅
主权项: 1.一种用于对制备的组织切片的组织表面上的特定组织状态进行质谱识别的方法,包括: 从所述组织表面空间分辨地采集质谱; 通过比较使用其中包含的质量信号获得的质谱,搜索所述组织表面上的相似区域; 根据被确定为相似的区域中的质谱生成和光谱, 在所述和光谱上执行标志物识别,其中一个或多个标志物指示特定的组织状态;以及 如果所述和光谱上的相应标志物识别是成功的,则表征所述和光谱基于的具有一个或多个组织状态的所述组织表面上的所有区域。 2.根据权利要求1所述的方法,其中,用于相似性测定的方法提供所述质谱的相似性参数。 3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述质谱的相似性用于确定所述相似性参数超过设定阈值的区域。 4.根据权利要求1所述的方法,其中,将所述组织表面划分为用于空间分辨采集的像素,由此选择允许获取若干单独的质谱的像素尺寸,并且由此从这些单独的质谱针对每个像素形成像素和光谱。 5.根据权利要求4所述的方法,其中,针对相似性,利用其他像素的所有像素和光谱检查每个单独像素的像素和光谱。 6.根据权利要求4所述的方法,其中,如果将像素和光谱与相似阈值以上的原始像素的像素和光谱相似的那些像素排除在关于其他像素的像素和光谱的进一步相似性测定之外,则可以减少逐像素相似性测定的次数。 7.根据权利要求4所述的方法,其中,为了第一区域的搜索,通过从任意选择的像素(“随机种子”)开始,确定像素和质谱与所有相邻像素的像素和质谱的相似性,并且在所有空间方向上继续搜索直到达到在每种情况下的边界,其中所述像素和光谱不再足够相似,然后在该点处进行第二区域的搜索,从已经找到的第一区域外的所选像素开始,依次类推,直到所述组织表面被完全处理。 8.根据权利要求1所述的方法,其中,将空间分辨的质谱与参考质谱进行比较,所述参考质谱包含组织类型的质量信号特征,以确定所述参考质谱与空间分辨的质谱的相似性。 9.一种用于借助于来自薄组织切片的利用空间分辨率获得的质谱搜索组织学样本中的特定组织状态以及用于其空间分布的可视化的方法,其中所述特定组织状态由已知标志物指示, 其中, 通过已知方法在组织表面上寻找具有相同类型组织的区域;以及 对来自具有相同类型的组织的区域的至少如此多的质谱进行求和,使得求和的质谱的质量足以用于明确识别标志物。 10.根据权利要求9所述的方法,其中,通过光学显微镜确定所述区域。
所属类别: 发明专利
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