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混晶样品中无定型结构含量的检测方法
| 专利名称： | 混晶样品中无定型结构含量的检测方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种混晶样品中无定型结构含量的检测方法，属于检测分析技术领域。本发明为了弥补现在混晶样品中无定型结构含量检测方法的空白，提供了一种混晶样品中无定型结构含量的检测方法，包括以下步骤：(1)取混晶样品，测定其含有的成分；(2)选择一种混晶样品中不含有的标准晶体作为参比样；(3)将质量百分含量为C1的参比样与混晶样品混匀、研磨后，用XRD测定混合样品中参比样的相对质量百分含量为C2；(4)通过公式计算无定型结构的质量百分含量X。本发明不仅能够测试二氧化钛混晶中无定型结构的含量，还能够测试其他混晶样品中无定型结构的含量，适用范围广泛，操作简便，结果准确。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 四川;51 |
| 申请人： | 攀钢集团攀枝花钢铁研究院有限公司 |
| 发明人： | 吴健春;路瑞芳 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-01-29T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-05-17T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910086075.9 |
| 公开号： | CN109765251A |
| 代理机构： | 成都虹桥专利事务所(普通合伙) |
| 代理人： | 梁鑫 |
| 分类号： | G01N23/2005(2018.01);G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 617000 四川省攀枝花市东区桃源街90号 |
| 主权项： | 1.混晶样品中无定型结构含量的检测方法，其特征在于：包括以下步骤： (1)取混晶样品，测定其含有的成分； (2)选择一种混晶样品中不含有的标准晶体作为参比样； (3)将质量百分含量为C1的参比样与混晶样品混匀、研磨后，用XRD测定混合样品中参比样的相对质量百分含量为C2； (4)通过公式计算无定型结构的质量百分含量X。 2.根据权利要求1所述的混晶样品中无定型结构含量的检测方法，其特征在于：步骤(1)中，所述测定混晶样品成分的方法为荧光分析法或电镜能谱分析法。 3.根据权利要求1或2所述的混晶样品中无定型结构含量的检测方法，其特征在于：步骤(2)中，所述标准晶体的XRD衍射峰与混晶样品中晶体的XRD衍射峰不能重合。 4.根据权利要求1所述的混晶样品中无定型结构含量的检测方法，其特征在于：步骤(3)中，所述C1为10％～50％。 5.根据权利要求1所述的混晶样品中无定型结构含量的检测方法，其特征在于：步骤(3)中，所述研磨为研磨至粒径≤-200目。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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