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原文传递一种计算致密储层束缚水液膜厚度的新方法

专利名称：	一种计算致密储层束缚水液膜厚度的新方法
摘要：	本发明涉及一种致密储层束缚水液膜厚度的计算方法，是一种评价致密储层束缚水液膜厚度的准确有效手段。计算步骤依次包括：(1)岩心准备，切割为A、B两段，A段用于饱和水离心核磁共振实验，B段用于高压压汞实验；(2)计算离心后束缚水饱和度Swir；(3)离心过程T2谱检测，确定薄膜束缚水分布；(4)计算不同孔喉半径ri对应孔喉内表面积Ai；(5)计算不同孔喉半径ri对应薄膜束缚水液膜厚度Hwi。本发明结合离心过程核磁共振T2谱和高压压汞毛管压力曲线，准确计算得到致密储层不同半径孔隙内束缚水液膜平均厚度Hwi，为致密储层开发有效渗流通道评价奠定基础。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	四川;51
申请人：	西南石油大学
发明人：	陈猛;戴家才;刘向君;况晏;杨国锋;秦昊
专利状态：	有效
申请日期：	2019-01-18T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-21T00:00:00+0800
申请号：	CN201910047257.5
公开号：	CN109781765A
分类号：	G01N24/08(2006.01);G;G01;G01N;G01N24
申请人地址：	610500 四川省成都市新都区新都大道8号
主权项：	1.一种计算致密储层束缚水平均液膜厚度的新方法，依次包括以下步骤： (1)岩心准备，切割为A、B两段，A段(干重m0)用于离心核磁共振实验，B段用于高压压汞实验； (2)选取A段岩心样品洗盐、烘干后饱和模拟地层水，称量其质量m1，逐渐增加离心转速离心至含水饱和度变化小于3％，称量离心最终质量m2，同时监测不同转速离心后核磁共振T2谱，计算离心后束缚水饱和度Swir； (3)通过离心前后T2谱分布变化，确定样品离心过程临界流动半径下限； (4)确定样品不同半径ri孔隙对应内表面积Ai； (5)计算不同半径孔隙内薄膜束缚水平均液膜厚度Hwi。 2.如权利要求1所述的致密储层束缚水膜厚度计算方法，其特征在于，所述步骤(2)采用如下公式计算束缚水饱和度Swir：式中，D—离心样品直径，m； L—离心样品长度，m； φ—A段岩心样品孔隙度，小数； ρw—自吸流体密度，kg/m3； m2—A段岩心样品离心后质量，kg； m0—A段岩心样品干重，kg。 3.如权利要求1所述的致密储层束缚水膜厚度计算方法，其特征在于，所述步骤(4)采用如下公式计算样品不同孔喉半径对应有效孔隙内表面积Ai：式中，Ai—孔喉半径r下对应的孔喉内表面积，MPa； pi—第i次外加进汞压力，MPa； pi-1—第i-1次外加进汞压力，MPa； Vi—当前压力pi下对应进汞体积，m3； Vi-1—当前压力pi-1下对应进汞体积，m3； θ—两相流体液面接触角，°； σ—界面张力，N/m。 4.如权利要求1所述的致密储层束缚水膜厚度计算方法，其特征在于，所述步骤(5)采用如下公式计算不同孔喉半径孔隙内薄膜束缚水体积：式中，Vwif—不同半径孔喉空间对应薄膜束缚水体积，m3； φ—离心样品孔隙度，小数； Swir—离心样品束缚水饱和度，小数； T2ir—束缚水状态不同孔喉半径对应流体分布幅度，无量纲。 5.如权利要求1所述的致密储层束缚水膜厚度计算方法，其特征在于，所述步骤(5)采用如下公式计算不同孔喉半径孔隙内对应束缚水液膜平均厚度：式中，Hwi—任意半径ri孔喉液膜平均厚度，m； Vwif—任意半径ri孔喉内薄膜束缚水体积，m3； Ai—任意半径内薄膜束缚水占孔隙体内表面积，m2。
所属类别：	发明专利