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原文传递用于样品的分析检查的测试元件分析系统

专利名称：	用于样品的分析检查的测试元件分析系统
摘要：	公开了用于样品的分析检查的测试元件分析系统（110）以及用于样品的分析检查的方法。测试元件分析系统（110）包括测量装置（112），测量装置（112）包括用于至少部分地接收至少一个测试元件（116）的测试元件接受器（114），其中，测试元件接受器（114）包括至少一个第一部分（118）和至少一个第二部分（120），其中，第一部分（118）包括用于置放测试元件（116）的至少一个支撑表面（144），其中，第二部分（120）包括至少一个光学检测器（128），所述光学检测器用于检测在测试元件（116）中包含的至少一种测试化学物质（154）的至少一种检测反应，其中，第二部分（120）可相对于第一部分（118）移动，其中，测试元件接受器（114）配置成将第二部分（120）定位在至少一个位置中，使得测试元件（116）可以插入到测试元件接受器（114）中，且随后将第二部分（120）定位在关闭位置（182）中，使得第二部分（120）的至少一个邻接表面（184）静止在测试元件（116）上。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	瑞士;CH
申请人：	豪夫迈·罗氏有限公司
发明人：	L.菲施海特;R.施泰因;M.格贝尔
专利状态：	有效
申请日期：	2017-10-12T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-24T00:00:00+0800
申请号：	CN201780063503.5
公开号：	CN109804237A
代理机构：	中国专利代理(香港)有限公司
代理人：	邹松青;谭祐祥
分类号：	G01N21/77(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	瑞士巴塞尔
主权项：	1.一种用于样品的分析检查的测试元件分析系统（110），所述测试元件分析系统包括测量装置（112），所述测量装置（112）包括用于至少部分地接收至少一个测试元件（116）的测试元件接受器（114），其中，所述测试元件接受器（114）包括至少一个第一部分（118）和至少一个第二部分（120），其中，所述第一部分（118）包括用于置放所述测试元件（116）的至少一个支撑表面（144），其中，所述第二部分（120）包括至少一个光学检测器（128），所述光学检测器用于检测在所述测试元件（116）中包含的至少一种测试化学物质（154）的至少一种检测反应，其中，所述第二部分（120）能够相对于所述第一部分（118）移动，其中，所述测试元件接受器（114）配置成将所述第二部分（120）定位在至少一个位置中，使得测试元件（116）能够被插入到所述测试元件接受器（114）中，且随后将所述第二部分（120）定位在关闭位置（182）中，使得所述第二部分（120）的至少一个邻接表面（184）静止在所述测试元件（116）上。 2.根据前述权利要求所述的测试元件分析系统（110），其中，所述光学检测器（128）包括至少一个透镜元件（188），其中，所述邻接表面（184）位于以下中的一者或两者中：所述透镜元件（188）的焦平面（190）、所述光学检测器（128）的基本上理想的物平面。 3.根据前述权利要求所述的测试元件分析系统（110），其中，所述光学检测器（128）包括至少一个光源和至少一个光电检测器（186），其中，所述透镜元件（188）位于所述至少一个光源或所述至少一个光电检测器（186）中的一者或两者的前方。 4.根据前述权利要求中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，所述光学检测器（128）被固定地定位在所述第二部分（120）内。 5.根据前述权利要求中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，所述第二部分（120）能够相对于所述第一部分（118）沿基本上垂直于所述支撑表面（144）的方向（178）移动。 6.根据前述权利要求中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，所述测试元件分析系统（110）还包括至少一个促动器（132），所述促动器用于驱动所述第一部分（118）和所述第二部分（120）的相对移动，其中，所述促动器（132）配置成用于执行预定的移动序列，从而将所述第二部分（120）顺序地带到至少两个位置中。 7.根据前述权利要求所述的测试元件分析系统（110），其中，所述促动器（132）配置成用于分别在至少两个位置中的一个中停止移动。 8.根据前述权利要求中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，所述测试元件分析系统（110）还包括至少一个测试元件（116），所述测试元件具有至少一个载体（150）和至少一种测试化学物质（154），以用于在存在被包含于所述样品中的分析物的情况下执行至少一种检测反应。 9.根据前述权利要求所述的测试元件分析系统（110），其中，所述测试化学物质（154）是干燥测试化学物质（156）。 10.根据前述两项权利要求中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，当所述邻接表面（184）静止在所述测试元件（116）上时，所述邻接表面（184）平坦地静止在所述载体（150）上。 11.根据前述三项权利要求中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，当所述第二部分（120）相对于所述第一部分（118）移动时，所述邻接表面（184）总是平行于所述第一部分（118）的支撑表面（144）。 12.根据前述权利要求中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，所述第二部分（120）还包括至少一个对准销（170），所述至少一个对准销用于与所述测试元件（116）的至少一个对准孔（172）接合。 13.根据前述权利要求中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，所述测试元件接受器（114）配置成相对于所述第一部分（118）将所述第二部分（120）定位在至少两个不同位置处，所述至少两个不同位置包括打开位置（168）和关闭位置（182）；所述打开位置用于以下中的至少一者：将所述测试元件（116）插入到所述测试元件接受器（114）中、和从所述测试元件接受器（114）移除所述测试元件（116）；所述关闭位置用于执行测量。 14.一种用于样品的分析检查的方法，所述方法包括： a）提供具有测试元件接受器（114）的测量装置（112），所述测试元件接受器用于接收至少一个测试元件（116），其中，所述测试元件接受器（114）包括至少一个第一部分（118）和至少一个第二部分（120），其中，所述第一部分（118）包括至少一个支撑表面（144）以用于置放所述测试元件（116），其中，所述第二部分（120）包括至少一个光学检测器（128）以用于检测在所述测试元件（116）中包含的至少一种测试化学物质（154）的至少一种检测反应，其中，所述第二部分（120）能够相对于所述第一部分（118）移动， b）将所述第二部分（120）定位在一位置中，使得测试元件（116）能够被插入到所述测试元件接受器（114）中； c）将所述测试元件（116）插入到所述测试元件接受器（114）中； d）关闭所述测试元件接受器（114），使得所述第二部分（120）的至少一个邻接表面（184）静止在所述测试元件（116）上。 15.根据前述方法权利要求中的任一项所述的方法，其中，在执行步骤b）之后，所述测试场（152）脱离利用所述光学检测器（128）的聚焦，其中，在执行步骤d）之后，所述测试场（152）利用所述光学检测器（128）被聚焦。
所属类别：	发明专利