专利名称: |
不等厚对接焊缝检测方法 |
摘要: |
本发明属于核电厂无损检测技术领域,提供了一种不等厚对接焊缝检测方法,包括以下步骤:制作对比试块,并在对比试块的不同深度埋藏多组不同类型的预设缺陷;根据不等厚对接焊缝结构特点进行超声参数仿真实验;根据超声仿真结果及不等厚对接焊缝结构特点制定相控阵探伤工艺参数;针对埋藏的多组预设缺陷,进行射线探伤、手动超声探伤及相控阵探伤的工艺对比实验;根据试验研究结果,最终确定以100%相控阵探伤检测,然后辅以射线探伤抽检的方式进行现场作业。本发明提供的不等厚对接焊缝检测方法,弥补了射线探伤安全风险大、占用资源多及对面积型缺陷易漏检的缺陷,同时,提升了该焊缝无损检测的整体可靠性,保障了机组质量安全。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
广东核电合营有限公司 |
发明人: |
李守彬;孔晨光;范岩成;罗立群 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-02-27T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-05-31T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910147071.7 |
公开号: |
CN109828027A |
代理机构: |
深圳中一专利商标事务所 |
代理人: |
汪海琴 |
分类号: |
G01N29/06(2006.01);G;G01;G01N;G01N29 |
申请人地址: |
518031 广东省深圳市福田区深南大道2002号福中三路中广核大厦17层 |
主权项: |
1.不等厚对接焊缝检测方法,其特征在于,包括以下步骤: S10:制作对比试块,并在所述对比试块的不同深度埋藏多组不同类型的预设缺陷; S20:根据不等厚对接焊缝结构特点进行超声参数仿真实验; S30:根据超声仿真结果及不等厚对接焊缝结构特点制定相控阵探伤工艺参数; S40:针对埋藏的多组预设缺陷,进行射线探伤、手动超声探伤及相控阵探伤的工艺对比实验; S50:根据试验研究结果,最终确定以100%相控阵探伤检测,然后辅以射线探伤抽检的方式进行现场作业。 2.如权利要求1所述的不等厚对接焊缝检测方法,其特征在于,在步骤S10中,对比试块的制作步骤包括: S11:选取与不等厚对接结构材料相同的对比试块材料; S12:将对比试块的厚度制成与不等厚对接结构的厚度相同,长度为至少能满足一次反射波扇形扫描角度范围移动的空间; S13:将预设缺陷按照不同深度及不同位置埋藏于对比试块中。 3.如权利要求2所述的不等厚对接焊缝检测方法,其特征在于,在步骤S13中,在所述对比试块中埋藏预设缺陷的类型至少包括裂纹、未焊透、坡口未熔合、层间未熔合、条渣及气孔。 4.如权利要求1所述的不等厚对接焊缝检测方法,其特征在于,在步骤S30中,所述相控阵工艺参数包括相控阵探头参数,所述相控阵探头包括楔块,以及沿一维阵列方式排列设于所述楔块内的晶片。 5.如权利要求4所述的不等厚对接焊缝检测方法,其特征在于,所述楔块内设有32块晶片,所述晶片的频率均为4赫兹或均为5赫兹,所述晶片的长度为0.4mm,相邻两所述晶片的间距为0.1mm,所述楔块角度为36度,所述楔块折射角为55度。 6.如权利要求5所述的不等厚对接焊缝检测方法,其特征在于,所述相控阵工艺参数还包括所述楔块在不等厚对接结构上的扫查面。 7.如权利要求6所述的不等厚对接焊缝检测方法,其特征在于,在步骤S40中,采取45度手动超声探头在所述扫查面上对埋藏有预设缺陷的对比试块进行手动超声检查。 8.如权利要求1所述的不等厚对接焊缝检测方法,其特征在于,在步骤S40中,针对埋藏的多组预设缺陷进行射线探伤检验包括如下步骤; S41:对埋藏有预设缺陷的对比试块进行中心曝光、偏心曝光及双壁单影三种方式进行射线探伤实验; S42:将中心曝光、偏心曝光及双壁单影三种方式对预设缺陷的检出率与可靠性进行对比。 9.如权利要求1所述的不等厚对接焊缝检测方法,其特征在于,在步骤S50中,使用相控阵探伤工艺进行缺陷检验之前,需要对不等厚对接结构做以下准备: S51:对扫查面的相控阵探头移动区内的焊接飞溅、铁屑、油垢及其他杂质进行清除,并进行打磨; S52:对焊缝表面的咬边、较大的隆起和凹陷进行修磨,并作圆滑过渡; S53:选用具有良好透声性和适宜流动性的材料制作超声耦合剂; S54:实际检测采用的耦合剂应与检测系统设置和校准时的超声耦合剂相同。 10.如权利要求9所述的不等厚对接焊缝检测方法,其特征在于,在步骤S50中,使用相控阵探伤工艺进行现场缺陷检测,包括以下步骤: S51:根据仿真实验及在对比试块上做的相控正探伤工艺选定相控阵探头的实际参数及实际扫查面; S52:将相控阵探头沿着所述实际扫查面周向扫查,以获得焊缝缺陷数据。 |
所属类别: |
发明专利 |