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一种侧蚀、裂纹、空洞量测切片制作方法
| 专利名称： | 一种侧蚀、裂纹、空洞量测切片制作方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种侧蚀、裂纹、空洞量测切片制作方法，有效解决了目前量测切片图形分界线模糊问题。本发明包含如下步骤：(1)切片取样；(2)粗略研磨；(3)灌水晶胶以及细研磨；(4)金相显微镜量测；还包含位于步骤(1)或者步骤(2)之后的缺陷区域颜色填充的步骤，所述缺陷区域颜色填充的步骤为：用填充剂颜色涂覆缺陷区域以区分于其他材质颜色，增强切片缺陷对比度；所述其他材质颜色包含基材、铜、阻焊剂颜色以及表面处理颜色。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 深圳市仁创艺电子有限公司 |
| 发明人： | 宋杰;姜辉望;马义伟 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-03-15T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-06-04T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910199506.2 |
| 公开号： | CN109839287A |
| 代理机构： | 佛山市广盈专利商标事务所(普通合伙) |
| 代理人： | 李俊 |
| 分类号： | G01N1/06(2006.01);G;G01;G01N;G01N1 |
| 申请人地址： | 518103 广东省深圳市宝安区福永街道和平社区永和路45号金丰工业区4栋厂房 |
| 主权项： | 1.一种侧蚀、裂纹、空洞量测切片制作方法，包含如下步骤： (1)切片取样； (2)粗略研磨； (3)灌水晶胶以及细研磨； (4)金相显微镜量测； 还包含位于步骤(1)或者步骤(2)之后的缺陷区域颜色填充的步骤，所述缺陷区域颜色填充的步骤为：用填充剂颜色涂覆缺陷区域以区分于其他材质颜色，增强切片缺陷对比度； 所述其他材质颜色包含基材、铜、阻焊剂颜色以及表面处理颜色。 2.如权利要求1所述的一种侧蚀、裂纹、空洞量测切片制作方法，其特征在于：所述缺陷区域颜色填充的步骤中的填充剂为修正液；修正液成分包含甲基环乙烷和钛白粉。 3.如权利要求1所述的一种侧蚀、裂纹、空洞量测切片制作方法，其特征在于： 所述缺陷区域颜色填充的步骤位于步骤(1)和步骤(2)之间；且所述缺陷区域颜色填充的步骤的缺陷为表面缺陷；所述表面缺陷包含油墨、线路侧蚀、表面裂纹缺陷；所述缺陷区域颜色填充的步骤的操作环境要求：湿度55±8％，温度21±3℃；所述缺陷区域颜色填充的步骤是在切片取样后表面缺陷区域涂布渗透方式进行填充剂填充作业。 4.如权利要求1所述的一种侧蚀、裂纹、空洞量测切片制作方法，其特征在于：所述缺陷区域颜色填充的步骤位于步骤(2)和步骤(3)之间；且所述缺陷区域颜色填充的步骤的缺陷为孔壁或材料缺陷，所述孔壁或材料缺陷包含材料空洞、孔壁分离、材料裂痕缺陷；在步骤(1)的切片取样后进行步骤(2)的粗略研磨，打磨至缺陷位置后通过填充剂渗入缺陷位置填充，并预留将填充残留物打磨清除及切片纠正厚度D；D＝2/3孔径-1/2孔径；打磨至缺陷位置是指2/3孔径位置。 5.如权利要求1所述的一种侧蚀、裂纹、空洞量测切片制作方法，其特征在于：所述步骤(4)的金相显微镜量测为常规滤镜金相显微镜量测。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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