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原文传递一种界面接触热阻的高精度测试方法

专利名称：	一种界面接触热阻的高精度测试方法
摘要：	本发明公开了一种界面接触热阻的高精度测试方法，属于测试技术领域，本发明所述的测试方法采用先进的非接触热成像技术进行多个数据点的平均处理，较现有界面温差的界面外推或随机取值选取方法，该测试方法能更为精准的计算得到界面温差，也更进一步提高了采用先进热成像技术进行界面接触热阻的测试精度，可实现高温、瞬态和微纳米尺度的界面接触热阻高精度测试，并且可实现从常温~2700℃温度区间的界面接触热阻测试。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广西;45
申请人：	桂林电子科技大学
发明人：	张平;李强;宣益民;马伟;陈孟君;黄勇;史波;杨道国
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-27T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-04T00:00:00+0800
申请号：	CN201910237000.6
公开号：	CN109839406A
代理机构：	南京苏创专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	高丽
分类号：	G01N25/20(2006.01);G;G01;G01N;G01N25
申请人地址：	541004 广西壮族自治区桂林市七星区金鸡路1号
主权项：	1.一种界面接触热阻的高精度测试方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：第一步，将待测两组试样平行设置在加热体和制冷块之间；第二步，开启加热体和制冷块；第三步，采用热成像技术采集待测试样界面上的温度数据，得到温度场图像；第四步，对所述温度场图像进行图像提取，提取后图像需包括待测两组试样的接触界面，再以提取后图像中y方向的像素点为纵坐标或横坐标，以其对应的温度值为相应坐标构建数据拟合曲线，得到待测两组试样的温度梯度曲线和待测两组试样接触界面间的温度曲线，，所述三条曲线具有两个交点，设所述交点之间的差值为界面温差ΔTc，所述的y方向与待测两组试样的设置方向一致；第五步，接触热阻R的计算：式中，R为接触热阻，ΔTc为界面温差，q为待测试样接触界面处热流量值。 2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，在待测两组试样与加热体和/或制冷块之间，加设1～2个热流量计。 3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，第四步中，以待测试样轴向方向和截面方向，对所述温度场图像进行矩形图像提取，提取后图像需包括待测试样接触界面，其大小为n×m像素点，其中，n和m均不小于4。 4.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，第四步中，对提取后的图像数据进行平均值处理。 5.如权利要求1或4所述的测试方法，其特征在于，第四步中，对提取后的待测两组试样x方向的图像数据进行平均值处理，所述的x方向与y方向垂直。 6.如权利要求1或4所述的测试方法，其特征在于，第四步中，对提取后的待测两组试样x方向的每个像素点对应的温度数据进行平均值处理，所述的x方向与y方向垂直。 7.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，第五步中，待测试样接触界面处热流量值q的计算公式如下：式中，kr为待测试样材料的导热系数，为待测试样的温度梯度。 8.如权利要求7所述的测试方法，其特征在于，为待测试样的温度梯度曲线和待测试样接触界面间的温度曲线的斜率。 9.如权利要求1所述的测试方法，所述的热成像技术包括红外成像测温、光场成像测温以及激光、光电子、信息和CCD成像测温技术。
所属类别：	发明专利