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检查有机发光二极管面板时的除水分装置
| 专利名称： | 检查有机发光二极管面板时的除水分装置 |
| 摘要： | 本发明涉及当利用超声波非破坏检查方式来检查有机发光二极管面板的气泡时，通过去除检查区域的水分来防止有机发光二极管面板受到水分的影响的检查有机发光二极管面板时的除水分装置，上述检查有机发光二极管面板时的除水分装置包括：工作台，用于收容检查对象；供水部，用于向蒸镀有玻璃的检查对象的上部供水；气泡检测部，向流着水的上述检查对象的上部发射超声波，将因检查对象的密度差而反射的信号作为气泡检测信号来输出；以及防水分流入部，当利用上述气泡检测部检测气泡时，用于防止水分流入上述检查对象。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 韩国;KR |
| 申请人： | DE&T株式会社 |
| 发明人： | 金庚秀;都贤玽;李东柱;李相恩;李在镐;李章圭 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2018-11-28T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-06-04T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201811434962.2 |
| 公开号： | CN109839435A |
| 代理机构： | 北京银龙知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 金鲜英;张敬强 |
| 分类号： | G01N29/04(2006.01);G;G01;G01N;G01N29 |
| 申请人地址： | 韩国忠清南道 |
| 主权项： | 1.一种检查有机发光二极管面板时的除水分装置，当以非破坏性检查方式检测显示面板的气泡时，用于防止水分流入显示面板，其特征在于，包括： 工作台，用于收容检查对象； 供水部，用于向蒸镀有玻璃的检查对象的上部供水； 气泡检测部，向流着水的上述检查对象的上部发射超声波，将因检查对象的密度差而反射的信号作为气泡检测信号来输出；以及 防水分流入部，当利用上述气泡检测部检测气泡时，用于防止水分流入上述检查对象。 2.根据权利要求1所述的检查有机发光二极管面板时的除水分装置，其特征在于，上述检查对象为液晶显示装置面板或有机发光二极管面板。 3.根据权利要求1所述的检查有机发光二极管面板时的除水分装置，其特征在于，上述气泡检测部包括： 脉冲、接收器，产生超声波脉冲，将被反射的超声波信号转换为电信号； 探针，向检查对象发射从上述脉冲、接收器产生的超声波，接收从上述检查对象反射的信号来向上述脉冲、接收器传递；以及 模数转换器，通过将从上述脉冲、接收器接收的电信号转换为数字信号来向影像处理器传递。 4.根据权利要求1所述的检查有机发光二极管面板时的除水分装置，其特征在于，上述防水分流入部设置于用于收容上述检查对象的工作台。 5.根据权利要求4所述的检查有机发光二极管面板时的除水分装置，其特征在于，上述防水分流入部设置于形成在上述工作台的检查区域的边缘部分。 6.根据权利要求1、4或5所述的检查有机发光二极管面板时的除水分装置，其特征在于，上述防水分流入部利用空气防止在安装于上述检查对象的上部的玻璃中流动的水流入上述检查区域。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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