专利名称: |
一种用于电子显微镜双轴倾转原位样品杆 |
摘要: |
本发明实施例涉及一种电子显微镜用双轴倾转原位样品杆,包括样品杆杆头和样品杆本体,其特征在于:样品杆杆头上顺次设置活动板、样品装载台和偏心转轴;样品杆杆头一端设置活动板,活动板上搭载有多个导电探针,导电探针与设置于样品装载台第一表面的触点芯片接触,样品装载台位于所述样品杆的腔体内,且样品装载台一端通过偏心转轴与驱动设备连接。本发明采用导电探针与触点芯片中电极的紧密接触,能够对样品进行电学测量和加热测温。通过触点芯片中高密度的电极阵列,可以使样品加热更快更均匀。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
安徽;34 |
申请人: |
安徽泽攸科技有限公司 |
发明人: |
张小龙;许晋京 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-02-02T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-06-07T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910106433.8 |
公开号: |
CN109856168A |
代理机构: |
北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
胡剑辉 |
分类号: |
G01N23/04(2018.01);G;G01;G01N;G01N23 |
申请人地址: |
244000 安徽省铜陵市经济技术开发区高新技术创业服务中心D号楼101号 |
主权项: |
1.一种电子显微镜用双轴倾转原位样品杆,包括样品杆杆头和样品杆本体,其特征在于:所述样品杆杆头上顺次设置活动板、样品装载台和偏心转轴; 所述样品杆杆头一端设置所述活动板,所述活动板上搭载有多个导电探针,所述导电探针与设置于所述样品装载台第一表面的触点芯片接触,所述样品装载台位于所述样品杆的腔体内,且所述样品装载台一端通过所述偏心转轴与驱动设备连接。 2.根据权利要求1所述的电子显微镜用双轴倾转原位样品杆,其特征在于,所述触点芯片的第一表面设有多个用于接触所述导电探针的电极,且所述电极与所述导电探针一对一接触,所述电极通过导线连接至所述触点芯片上的窗口,用于对所述窗口处的样品进行电学测量和加热测温。 3.根据权利要求1所述的电子显微镜用双轴倾转原位样品杆,其特征在于,所述样品装载台通过β转轴与所述腔体连接。 4.根据权利要求3所述的电子显微镜用双轴倾转原位样品杆,其特征在于,通过所述驱动设备控制所述偏心转轴,同时所述偏心转轴带动所述样品装载台围绕所述β转轴倾转,其倾转角度达到±65°。 5.根据权利要求2所述的电子显微镜用双轴倾转原位样品杆,其特征在于,所述样品装载台上设有圆孔,所述圆孔与所述触点芯片上的所述窗口重合。 6.根据权利要求1所述的电子显微镜用双轴倾转原位样品杆,其特征在于,所述导电探针中的导线通过引线通道与电学接口连接,用于给触点芯片提供电信号。 7.根据权利要求1所述的电子显微镜用双轴倾转原位样品杆,其特征在于,所述触点芯片采用半导体工艺制成; 所述半导体工艺至少包括以下之一: lpcvd,光刻,pecvd,rie,磁控溅射和IBE。 8.根据权利要求1所述的电子显微镜用双轴倾转原位样品杆,其特征在于,所述触点芯片通过第一螺栓固定在所述样品装载台上。 9.根据权利要求1所述的电子显微镜用双轴倾转原位样品杆,其特征在于,所述活动板通过转轴与所述样品杆杆头连接。 |
所属类别: |
发明专利 |