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一种用于显微维氏硬度分析用的试样制备装置
| 专利名称： | 一种用于显微维氏硬度分析用的试样制备装置 |
| 摘要： | 本发明涉及显微维氏硬度计领域，特别涉及一种显微维氏硬度分析的试样制备装置。包括壳体，壳体内设有可向中间夹紧的夹紧件，壳体的一端设有与壳体可结合和分离的水平定位件，该水平定位件朝向壳体的面设置成平面，壳体相对于水平定位件的另一端设有顶杆。本发明可以适应不规则形状的待测样品，提供一种结构简单，使用快速、方便的显微维氏硬度试样要求的制备装备。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 浙江;33 |
| 申请人： | 浙江工贸职业技术学院 |
| 发明人： | 王坤 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2018-11-20T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-06-07T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201811385160.7 |
| 公开号： | CN109855997A |
| 代理机构： | 北京阳光天下知识产权代理事务所(普通合伙) |
| 代理人： | 赵飞 |
| 分类号： | G01N3/42(2006.01);G;G01;G01N;G01N3 |
| 申请人地址： | 325000 浙江省温州市瓯海经济开发区东方南路38号温州市国家大学科技园孵化器1号楼 |
| 主权项： | 1.一种用于显微维氏硬度分析用的试样制备装置，其特征是：包括壳体，壳体内设有可向中间夹紧的夹紧件，壳体的一端设有与壳体可结合和分离的水平定位件，该水平定位件朝向壳体的面设置成平面，壳体相对于水平定位件的另一端设有顶杆。 2.根据权利要求1所述的一种用于显微维氏硬度分析用的试样制备装置，其特征是：所述的水平定位件与壳体联接后其朝向壳体内的面是精加工的平面，该壳体相对于该水平定位件的另一端的壳体的外表面能定义一个平面，由该端的外表面定义的平面与水平定位件的精加工平面平行。 3.根据权利要求1或2所述的一种用于显微维氏硬度分析用的试样制备装置，其特征是：所述的夹紧件是两个且相对设立。 4.根据权利要求3所述的一种用于显微维氏硬度分析用的试样制备装置，其特征是：夹紧件相向的方向设有凹陷的缺口。 5.根据权利要求4所述的一种用于显微维氏硬度分析用的试样制备装置，其特征是：所述的夹紧件在缺口处设置弹性片。 6.根据权利要求5所述的一种用于显微维氏硬度分析用的试样制备装置，其特征是：所述的弹性片一端固定在夹紧件上另一端在缺口内滑动。 7.根据权利要求1所述的一种用于显微维氏硬度分析用的试样制备装置，其特征是：壳体与顶杆联接的位置向壳体内部凹陷一定的尺寸。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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