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显微维氏硬度分析用的试样制备装置
| 专利名称： | 显微维氏硬度分析用的试样制备装置 |
| 摘要： | 本发明涉及显微维氏硬度计领域，特别涉及一种显微维氏硬度分析用的试样制备装置。包括基座，基座一端设有上夹具，基座内与该上夹具相对位置设有下夹具，上夹具与下夹具相对的面为平行的平面，下夹具可在基座内朝向上夹具方向平移，所述的下夹具与基座之间设有固定连接装置。本发明结构简单，造价低廉，采用本发明装置制作的试样不需要经过再次加工即可用于显微维氏硬度分析用。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 浙江;33 |
| 申请人： | 浙江工贸职业技术学院 |
| 发明人： | 王坤 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2018-11-20T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-06-07T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201811386531.3 |
| 公开号： | CN109855998A |
| 代理机构： | 北京阳光天下知识产权代理事务所(普通合伙) |
| 代理人： | 赵飞 |
| 分类号： | G01N3/42(2006.01);G;G01;G01N;G01N3 |
| 申请人地址： | 325000 浙江省温州市瓯海经济开发区东方南路38号温州市国家大学科技园孵化器1号楼 |
| 主权项： | 1.一种显微维氏硬度分析用的试样制备装置，其特征在于：包括基座，基座一端设有上夹具，基座内与该上夹具相对位置设有下夹具，上夹具与下夹具相对的面为平行的平面，下夹具可在基座内朝向上夹具方向平移，所述的下夹具与基座之间设有固定连接装置。 2.根据权利要求1所述的显微维氏硬度分析用的试样制备装置，其特征在于：所述的基座上设有容纳上夹具的卡槽，所述的上夹具可进入和脱离该卡槽。 3.根据权利要求1或2所述的显微维氏硬度分析用的试样制备装置，其特征在于：所述的基座的侧面设有垂直于下夹具的开槽，下夹具设有相应的凸块穿过该开槽并露出。 4.根据权利要求3所述的显微维氏硬度分析用的试样制备装置，其特征在于：基座在开槽边上的外表面上设有高度标尺。 5.根据权利要求3所述的显微维氏硬度分析用的试样制备装置，其特征在于：所述的下夹具与基座之间设有固定连接装置是在下夹具的凸块上设有螺母与基座实现固定连接。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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