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原文传递激光光源散斑测量方法、散斑抑制装置及其参数优化方法

专利名称：	激光光源散斑测量方法、散斑抑制装置及其参数优化方法
摘要：	本发明公开了一种激光光源散斑测量方法、散斑抑制装置及其参数优化方法，激光光源散斑测量方法，包括如下步骤：激光发生器发射的激光照射至荧光成像相机上；荧光成像相机在预设曝光时间内接收激光，并生成相应的图像信息；采集图像信息并形成含有散斑的高斯形分布图像，其中散斑表现为高频噪声；将高斯形分布图像处理后计算出散斑对比度。由于激光光源散斑测量方法中荧光成像相机直接作为激光散斑的接收屏，保证了测试一致性的基础上排除了投影屏幕、相机相对屏幕的观测角度、位置等因素的影响，从而本测量方法能够真实、可靠的测量激光光源的散斑对比度，并具有较高的测量精度。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	吉林;22
申请人：	长光华大基因测序设备(长春)有限公司
发明人：	常松涛;杨旺;李旭;宫晨
专利状态：	有效
申请日期：	2017-12-11T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-18T00:00:00+0800
申请号：	CN201711307713.2
公开号：	CN109900663A
代理机构：	深圳鼎合诚知识产权代理有限公司
代理人：	彭家恩;罗瑶
分类号：	G01N21/64(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	130033 吉林省长春市经开区营口路77号孵化基地1号楼
主权项：	1.一种激光光源散斑测量方法，其特征在于，包括如下步骤： S110：激光发生器发射的激光照射至荧光成像相机上； S120：荧光成像相机在预设曝光时间内接收激光，并生成相应的图像信息； S130：采集所述图像信息并形成含有散斑的高斯形分布图像，其中散斑表现为高频噪声； S140：将高斯形分布图像处理后计算出散斑对比度。 2.如权利要求1所述的激光光源散斑测量方法，其特征在于，所述荧光成像相机不带镜头。 3.如权利要求2所述的激光光源散斑测量方法，其特征在于，所述激光发生器发射的激光透过衰减片后照射至荧光成像相机上。 4.如权利要求1至3任一项所述的激光光源散斑测量方法，其特征在于，所述高斯形分布图像处理为：将含有散斑的高斯形分布图像三维高斯拟合后得到能量分布，再将高斯拟合后每个像素点的强度归一化后得到含有噪声的均匀图像。 5.如权利要求4所述的激光光源散斑测量方法，其特征在于，所述高斯形分布图像处理后根据如下公式计算出散斑对比度：其中，C表示散斑对比度，σI表示光强的标准差，表示光强的均值。 6.一种散斑抑制参数优化方法，其特征在于，包括如下步骤： S210：根据激光成像系统要求设定散斑对比度指标； S220：预设散斑抑制模块参数，改变荧光成像相机的曝光时间t，曝光时间t依次为t1、t2、…、tn，通过权利要求1至7任一项所述的激光光源散斑测量方法测量出散斑对比度，并记录上述曝光时间下散斑对比度小于指标的散斑抑制参数值和荧光成像相机的曝光时间； S230：改变散斑抑制模块参数，重复步骤S220； S240：统计所有散斑对比度小于指标的散斑抑制参数值和荧光成像相机的曝光时间，并从中选取优值。 7.如权利要求6所述的散斑抑制参数优化方法，其特征在于，所述散斑抑制模块参数包括光纤圈数c和振动频率f，所述步骤S230包括如下子步骤： S231：改变振动频率f，振动频率f依次为f1、f2、…、fm，重复步骤S220； S232：改变光纤圈数c，光纤圈数c依次为c1、c2、…co，重复步骤S220和S231。 8.如权利要求7所述的散斑抑制参数优化方法，其特征在于，对于多波长的激光光源，每个波长激光分别进行步骤S210-S240测量记录，并从中选取出优值。 9.一种散斑抑制装置，其特征在于，包括：激光发生器，其包括激光器和与之连接的光纤，所述激光器通过所述光纤发射激光，所述光纤的中部缠绕若干圈；振动电机，其振动输出端与所述光纤缠绕若干圈的部分连接；荧光成像相机，其安装在所述光纤发射激光的光路上。 10.如权利要求9所述的散斑抑制装置，其特征在于，所述激光器具有若干个，每个所述激光器连接有一根光纤，并且多根光纤合束卷绕在一起形成多模光纤。
所属类别：	发明专利