专利名称: |
一种多功能暗室荧光光谱测试仪装置 |
摘要: |
多功能暗室荧光光谱测试仪装置,包括光学暗室、Xe激发光源,滤光光栅、三维位移台和望远镜系统,Xe激发光源,滤光光栅、三维位移台和望远镜系统光学暗室内,Xe激发光源经滤光光栅,由滤光光栅出射的反射光路或经由光纤照射到三维位移台上荧光材料;三维位移台侧上方设有角度可调和焦距可调的望远镜系统。本实用新型通过巧妙地设计将多种功能集成在一起并置于光学暗室中,以满足大多数荧光光谱测试需求,各种参数可以根据需要进行调整,提高了实验效率与精度。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
江苏;32 |
申请人: |
南京盈波光电科技有限公司 |
发明人: |
边惠 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2018-08-28T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-06-18T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201821394552.5 |
公开号: |
CN208999307U |
代理机构: |
南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) |
代理人: |
陈建和 |
分类号: |
G01N21/64(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
210046 江苏省南京市栖霞区尧化街道尧佳路7号上城风景北苑16幢1004室 |
主权项: |
1.多功能暗室荧光光谱测试仪装置,其特征是,包括光学暗室、Xe激发光源,滤光光栅、三维位移台和望远镜系统,Xe激发光源,滤光光栅、三维位移台和望远镜系统光学暗室内,Xe激发光源经滤光光栅,由滤光光栅出射的反射光路或经由光纤照射到三维位移台上荧光材料;三维位移台侧上方设有角度可调和焦距可调的望远镜系统。 2.根据权利要求1所述的多功能暗室荧光光谱测试仪装置,其特征是,光学暗室设有接激光器的光入射口。 3.根据权利要求1所述的多功能暗室荧光光谱测试仪装置,其特征是,设有激光测距设备确定物镜与测试材料的距离。 4.根据权利要求1所述的多功能暗室荧光光谱测试仪装置,其特征是,暗室为真空室,暗室配置抽真空设备。 |
所属类别: |
实用新型 |