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一种荧光光谱的测试装置以及荧光光谱的测试方法
| 专利名称： | 一种荧光光谱的测试装置以及荧光光谱的测试方法 |
| 摘要： | 本发明属于荧光光谱技术测试领域，尤其涉及一种荧光光谱的测试装置以及荧光光谱的测试方法。荧光光谱的测试装置，用于获取待测材料的荧光光谱，其特征在于，荧光光谱的测试装置包括：激发结构，包括激发光源以及角度调节机构，激发光源用于生成预设波长的激发光束，激发光束以预设的入射角度入射待测材料表面，角度调节机构用于调节入射角度的值；旋转结构，用于固定待测材料，并根据用户输入的控制指令对待测材料和激发光源进行同步旋转；以及检测结构，用于接收待测材料生成的受激光束，并根据受激光束得到对应的荧光光谱。本发明通过分析在不同旋转角度下测得的荧光光谱，最终得到待测材料的角度分布特性。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司 |
| 发明人： | 薛占强;郭翠;潘奕 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-09-25T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-17T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910912443.0 |
| 公开号： | CN110579458A |
| 代理机构： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 李海宝 |
| 分类号： | G01N21/64(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 518000 广东省深圳市宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区第37栋二楼东 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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