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一种荧光光谱的测试装置及测试方法
| 专利名称： | 一种荧光光谱的测试装置及测试方法 |
| 摘要： | 本发明属于荧光测量技术领域，提供了一种荧光光谱的测试装置及测试方法，测试装置包括：激发光源，用于生成紫外光束，并将紫外光束照射在待测材料表面；旋转模块，用于固定待测材料，并根据用户输入的控制指令对待测材料和激发光源进行旋转；以及检测模块，用于接收待测材料生成的受激荧光光束，并根据受激荧光光束得到对应的荧光光谱；其中，激发光源与旋转模块通过连接板进行固定连接。通过获取待测材料在不同旋转角度下的荧光光谱，从而对待测材料的角度依赖特性进行分析，解决了现有的技术中，通常通过边带辐射测量，表面等离子体耦合测量以及在微腔结构中染色分子进行对OLED材料的偶极矩取向测量，导致测量步骤复杂的问题。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 华讯方舟科技有限公司;深圳市太赫兹科技创新研究院 |
| 发明人： | 薛占强;郭翠;潘奕 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811602793.9 |
| 公开号： | CN109490271A |
| 代理机构： | 深圳中一专利商标事务所 44237 |
| 代理人： | 高星 |
| 分类号： | G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 518000 广东省深圳市宝安区西乡宝田一路臣田工业区第37栋1楼及2楼靠西 |
| 主权项： | 1.一种荧光光谱的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：激发光源，用于生成紫外光束，并将所述紫外光束照射在待测材料表面；旋转模块，用于固定所述待测材料，并根据用户输入的控制指令对所述待测材料和所述激发光源进行旋转；以及检测模块，用于接收所述待测材料生成的受激荧光光束，并根据所述受激荧光光束得到对应的荧光光谱；其中，所述激发光源与所述旋转模块通过连接板进行固定连接。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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