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原文传递一种可测试材料的荧光光谱、余辉及荧光寿命的装置

专利名称：	一种可测试材料的荧光光谱、余辉及荧光寿命的装置
摘要：	本发明公开了一种可测试材料的荧光光谱、余辉及荧光寿命的装置，该装置包括样品台、X射线光源、第一滤光片、光子计数器、计时器、分光仪、计算机，样品台、X射线光源和第一滤光片设于暗箱内，当测试样品的荧光光谱强度时，样品通过光纤与分光仪连接，分光仪和X射线光源均与计算机电连接；当测试样品的余辉时，样品通过光纤与光子计数器连接，光子计数器和X射线光源均与计时器电连接，计时器与计算机电连接，当测试样品的荧光寿命时，第一滤光片设于样品和光子计数器之间，第一滤光片通过光纤与光子计数器连接，光子计数器和X射线光源均与计时器电连接，计时器与计算机电连接。本发明兼具测试材料的荧光光谱、余辉及荧光寿命的功能。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	江苏;32
申请人：	苏州大学
发明人：	王殳凹;陈兰花;王亚星
专利状态：	有效
申请日期：	2019-05-17T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-19T00:00:00+0800
申请号：	CN201910412940.4
公开号：	CN110031494A
代理机构：	苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	曹成俊
分类号：	G01N23/223(2006.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	215137 江苏省苏州市相城区太平镇济学路8号
主权项：	1.一种可测试材料的荧光光谱、余辉及荧光寿命的装置，其特征在于，包括样品台、X射线光源、第一滤光片、光子计数器、计时器、分光仪、计算机，所述样品台、X射线光源和第一滤光片设于暗箱内，所述样品台用于放置待测样品，所述X射线光源设于样品台上方；当测试样品的荧光光谱强度时，样品通过光纤与所述分光仪连接，所述分光仪和X射线光源均与计算机电连接；当测试样品的余辉时，样品通过光纤与所述光子计数器连接，所述光子计数器和X射线光源均与计时器电连接，所述计时器与计算机电连接；当测试样品的荧光寿命时，所述第一滤光片设于样品和光子计数器之间，所述第一滤光片通过光纤与所述光子计数器连接，所述光子计数器和X射线光源均与计时器电连接，所述计时器与计算机电连接。 2.如权利要求1所述的可测试材料的荧光光谱、余辉及荧光寿命的装置，其特征在于，还包括第二滤光片，所述第二滤光片设于所述暗箱内，当测试样品的荧光寿命时，所述第二滤光片设于X射线光源与样品台之间。 3.如权利要求1所述的可测试材料的荧光光谱、余辉及荧光寿命的装置，其特征在于，还包括支架，所述支架设于所述暗箱内，所述样品台设于所述支架上。 4.如权利要求3所述的可测试材料的荧光光谱、余辉及荧光寿命的装置，其特征在于，所述支架的高度可调节。 5.如权利要求1所述的可测试材料的荧光光谱、余辉及荧光寿命的装置，其特征在于，所述X射线光源设于样品台的正上方。 6.如权利要求1所述的可测试材料的荧光光谱、余辉及荧光寿命的装置，其特征在于，所述X射线光源为连续X射线光源或脉冲X射线光源。 7.如权利要求1所述的可测试材料的荧光光谱、余辉及荧光寿命的装置，其特征在于，当测试样品的荧光光谱强度时或余辉时，光纤通过导电胶与样品粘合。 8.如权利要求1所述的可测试材料的荧光光谱、余辉及荧光寿命的装置，其特征在于，所述计时器为HUB-A计时器。
所属类别：	发明专利