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原文传递光学测量装置

专利名称：	光学测量装置
摘要：	本发明涉及一种光学测量装置(10)，其具有：透明的圆筒形测量比色皿(12)，其限定出轴向的对称轴(53)并且包含液体试样，光学测量结构，用于定量确定位于透明测量比色皿(12)中的液体试样的光学性质，以及机械的清洁结构(16)。清洁结构(16)具有：外部的磁性工作平台(30)，其相对于对称轴(53)同轴地布置，能够平行于对称轴(53)平移地推移，并且能够围绕对称轴(53)旋转，并且在外部呈环形地包围圆筒形的测量比色皿(12)，以及具有至少一个平移机构磁体元件(32)和至少一个旋转机构磁体元件(34)，以及布置在测量比色皿(12)内的、内部的磁性清洁单元(50)能够旋转地而且能够平移地移位，具有清洁体(55)，具有至少一个平移机构磁体元件(52)并且具有至少一个旋转机构磁体元件(54)。工作平台(30)和清洁单元(50)的平移机构磁体元件(32、52)以及旋转机构磁体元件(34、54)分别无接触式地而且磁性地相互耦联。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	德国;DE
申请人：	哈希朗格有限公司
发明人：	法兰克·斯泰因豪尔;罗曼·克莱因;罗伯托·达里乔
专利状态：	有效
申请日期：	2017-11-07T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-21T00:00:00+0800
申请号：	CN201780069093.5
公开号：	CN109923400A
代理机构：	中科专利商标代理有限责任公司
代理人：	靖亮
分类号：	G01N21/51(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	德国柏林
主权项：	1.一种光学测量装置(10)，用于定量确定液体试样(19)的光学性质，具有：透明的圆筒形测量比色皿(12)，所述测量比色皿限定出轴向的对称轴(53)并且包含液体试样(19)，光学测量结构，用于定量确定位于测量比色皿(12)中的液体试样(19)的光学性质，以及机械的清洁结构(16)，其具有用于清洁测量比色皿(12)的内侧的、无接触式的力传递机制，其中，清洁结构(16)具有：外部的磁性工作平台(30)，所述工作平台相对于对称轴(53)同轴地布置，能够平行于对称轴(53)平移地推移，并且能够围绕对称轴(53)旋转，并且在外部呈环形地包围圆筒形的测量比色皿(12)，以及所述工作平台具有至少一个平移机构磁体元件(32)和至少一个旋转机构磁体元件(34)，以及布置在测量比色皿(12)内的、内部的磁性清洁单元(50)，能够旋转地而且能够平移地移位，具有清洁体(55)，具有至少一个平移机构磁体元件(52)并且具有至少一个旋转机构磁体元件(54)，其中，工作平台(30)和清洁单元(50)的平移机构磁体元件(32、52)以及旋转机构磁体元件(34、54)分别以如下方式无接触式地而且磁性地相互耦联：使得清洁单元(50)以平移和旋转的方式跟随工作平台(30)。 2.根据权利要求1所述的光学测量装置(10)，其中，为工作平台(30)对应有用于旋转工作平台(30)的旋转驱动马达(62)和用于沿轴向推移工作平台(30)的平移机构驱动马达(61)。 3.根据前述权利要求中任一项所述的光学测量装置(10)，其中，旋转驱动马达(62)驱动角棒(68’)，所述角棒平行于对称轴(53)地布置并且驱动齿轮(68)，所述齿轮驱动工作平台(30)的处在横向平面中的齿圈(48)。 4.根据前述权利要求中任一项所述的光学测量装置(10)，其中，平移机构驱动马达(61)驱动螺纹杆(66)，所述螺纹杆平行于对称轴(53)地布置并且驱动工作平台(30)的处在横向平面中的螺纹环(46)。 5.根据前述权利要求中任一项所述的光学测量装置(10)，其中，光学测量结构由光发射器(82)和光接收器(84)形成，光发射器和光接收器优选形成浊度测量结构。 6.根据前述权利要求中任一项所述的光学测量装置(10)，其中，工作平台(30)和清洁单元(50)的两个平移机构磁体元件(32、52)中的至少一个呈环形闭合地构造。 7.根据前述权利要求中任一项所述的光学测量装置(10)，其中，工作平台(30)和清洁单元(50)的两个平移机构磁体元件(32、52)中的至少一个沿平移方向被磁化。 8.根据前述权利要求中任一项所述的光学测量装置(10)，其中，工作平台(30)和/或清洁单元(50)的各至少两个旋转机构磁体元件(34、54)沿径向被磁化。 9.根据前述权利要求中任一项所述的光学测量装置(10)，其中，测量装置(10)是过程测量装置(10)，测量比色皿(12)对于流体是封闭的并且具有测量比色皿输入部(14)和测量比色皿输出部(15)。
所属类别：	发明专利