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原文传递一种应用于细胞凋亡检测的FRET效率定量测量方法

专利名称：	一种应用于细胞凋亡检测的FRET效率定量测量方法
摘要：	本发明涉及一种应用于细胞凋亡检测的FRET效率定量测量方法。本发明针对细胞凋亡检测FRET探针具有供体荧光基团和受体荧光基团的浓度比1：1的特点，不需要校正系统荧光串扰，也不需要测量系统敏化淬灭转化因子，只需要1个参数已知的串联质粒作为参照，可以快速实现细胞凋亡时空过程的定量监测。本发明对仪器的配置要求不高，成本低，具有能够实现FRET表观效率动态、定量测量等优点。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	福建;35
申请人：	福建师范大学
发明人：	吴志伟;林居强;黄义梅;谢树森
专利状态：	有效
申请日期：	2019-04-03T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-21T00:00:00+0800
申请号：	CN201910264449.1
公开号：	CN109916871A
代理机构：	福州元创专利商标代理有限公司
代理人：	蔡学俊
分类号：	G01N21/64(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	350117 福建省福州市闽侯县上街镇大学城科技路1号,福建师范大学旗山校区
主权项：	1.一种应用于细胞凋亡检测的FRET效率定量测量方法,其特征在于，包括以下步骤：步骤S1：选择一种供受体浓度比和FRET表观效率Eapp串已知的串联质粒作为参照质粒；步骤S2：采用供体激发滤光片产生供体激发光激发参照质粒，并通过供体发射滤光片和CCD获取细胞荧光图像，测量荧光强度ID串；步骤S3：采用受体激发滤光片产生受体激发光激发参照质粒，并通过受体发射滤光片和CCD获取细胞荧光图像，测量荧光强度IA串；步骤S4：采用供体激发滤光片产生供体激发光激发凋亡检测FRET探针，并通过供体发射滤光片和CCD获取细胞荧光图像，测量荧光强度ID凋亡；步骤S5：采用受体激发滤光片产生受体激发光激发凋亡检测FRET探针，并通过受体发射滤光片和CCD获取细胞荧光图像，测量荧光强度IA凋亡；步骤S6：构建凋亡检测FRET探针表观效率Eapp凋亡计算模型，并根据步骤S1-S5得到数据计算得到凋亡检测FRET探针表观效率Eapp凋亡。 2.根据权利要求1所述的一种应用于细胞凋亡检测的FRET效率定量测量方法,其特征在于：所述参照质粒中供、受体荧光基团与凋亡检测FRET探针中供、受体荧光基团一致。 3.根据权利要求1所述的一种应用于细胞凋亡检测的FRET效率定量测量方法,其特征在于：所述凋亡检测FRET探针中供、受体浓度比为1：1。 4.根据权利要求1所述的一种应用于细胞凋亡检测的FRET效率定量测量方法,其特征在于：所述测量过程设置两组独立的滤光片组，包括供体滤光片组和受体滤光片组；所述供体滤光片组包括：1块供体激发滤光片、1块供体二色片、1块供体发射滤光片，用于测量ID串和ID凋亡；所述受体滤光片组包括：1块受体激发滤光片、1块受体二色片、1块受体发射滤光片，且受体激发滤光片所产生受体激发光不能够激发供体荧光基团，用于测量IA串和IA凋亡。 5.根据权利要求3所述的应用于细胞凋亡检测的FRET效率定量测量方法,其特征在于：所述步骤S6具体为：步骤S61：根据计算出式中：ID串为参照质粒中浓度为CD串的供体通过供体滤光片组发射的荧光强度；Eapp串为参照质粒的FRET表观效率；IA串为参照质粒中浓度为CA串的受体通过受体滤光片组发射的荧光强度；为入射光强度；texD为供体激发滤光片透过率函数；CD串为参照质粒中供体浓度；为参照质粒中供体的消光系数；QD为参照质粒中供体的量子产额；tD香D为供体二色片的透过率函数；te香D为供体发射滤光片透过率函数；SD为CCD对供体发射光的响应函数；texA为受体激发滤光片透过率函数；CA串为参照质粒中受体浓度；为参照质粒中受体的消光系数；QA为参照质粒中受体的量子产额；tD香A为受体二色片的透过率函数；te香A为受体发射滤光片透过率函数；SA为CCD对受体发射光的响应函数；步骤S62：根据细胞凋亡检测FRET探针中供、受体浓度比为1：1，且供体荧光蛋白、受体荧光蛋白与参照质粒相同，测量仪器及滤光片组也一致，得到：则：
所属类别：	发明专利