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原文传递一种基于声发射技术的镁合金LPSO结构评估方法

专利名称：	一种基于声发射技术的镁合金LPSO结构评估方法
摘要：	本发明公开一种基于声发射技术的镁合金LPSO结构评估方法，包括对待测镁合金进行声发射检测，以断铅信号作为激励信号，测量待测镁合金激励信号的能量衰减率，通过声衰减系数，并与相同检测条件下的基准无LPSO结构镁合金进行对比，评估镁合金是否存在LPSO结构。待测镁合金材料的声衰减系数少于无LPSO结构镁合金材料的声衰减系数1dB/cm以上，待测镁合金材料有LPSO结构；反之，待测镁合金材料无LPSO结构。本发明对镁合金LPSO结构检测评估时，不会对被检测材料造成破坏，能够保持材料结构和功能的完整。同时，面对大批量的镁合金材料，本发明通过不同声衰减系数来评估镁合金有无LPSO结构，该评估方法简单且效率高，是一种基于声发射技术的镁合金LPSO结构评估方法。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	湖南;43
申请人：	长沙理工大学
发明人：	王向红;杨胜;周小杰;胡宏伟;易可夫
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-19T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-21T00:00:00+0800
申请号：	CN201910207537.8
公开号：	CN109917023A
分类号：	G01N29/14(2006.01);G;G01;G01N;G01N29
申请人地址：	410114 湖南省长沙市天心区万家丽南路2段960号
主权项：	1.一种基于声发射技术的镁合金LPSO结构评估方法，其特征在于包括以下步骤： (a)首先确定一定数量无LPSO结构的镁合金材料作为样本，利用声发射设备测量出信号在样本材料中随着传输距离增加的能量衰减特性，并对其进行直线拟合，得出样本材料的声衰减系数即拟合直线的斜率，该值为无LPSO结构镁合金材料的声衰减系数； (b)与基准无LPSO结构镁合金材料在相同的检测条件下，利用声发射设备测出待测镁合金材料的声衰减系数，通过与基准无LPSO结构镁合金材料的声衰减系数对比来评估镁合金有无LPSO结构，待测镁合金材料的声衰减系数少于无LPSO结构镁合金材料的声衰减系数1dB/cm以上，待测镁合金材料有LPSO结构；反之，待测镁合金材料无LPSO结构。 2.如权利要求1所述一种基于声发射技术的镁合金LPSO结构评估方法，其特征在于，能量衰减率的计算公式为：α＝20log(Em/E1)，式中：E1为传感器1所采集信号的能量值，Em为传感器m所采集信号的能量值；离断铅点最近的为传感器1，m表示接收传感器的编号，该编号从2开始，数量由试件的大小决定。 3.如权利要求1所述一种基于声发射技术的镁合金LPSO结构评估方法，其特征在于，所述步骤(a)、(b)中的声发射传感器粘贴于镁合金试件上侧，S1～Sm代表传感器1～m；S1～Sm传感器的粘贴位置是在镁合金试件中心线上，S1～Sm两两间隔为30mm～40mm，同时，S1、Sm传感器与其直线边际的距离至少大于30mm。 4.如权利要求1所述一种基于声发射技术的镁合金LPSO结构评估方法，其特征在于，所述步骤(a)、(b)中的声发射设备，主要包括声发射传感器，耦合剂，声发射信号处理软件，前置放大器；一个传感器采集激励信号，其他传感器作为接收传感器，均通过耦合剂与试件接触，传感器经过前置放大器与计算机相连。
所属类别：	发明专利