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原文传递一种基于声发射技术的镁合金过烧缺陷评估方法

专利名称：	一种基于声发射技术的镁合金过烧缺陷评估方法
摘要：	本发明公开一种基于声发射技术的镁合金过烧缺陷评估方法，包括首先准备一定数量热处理后的镁合金材料作为样本，测量断铅模拟激励信号在样本材料中的能量衰减率，利用扫描电子显微镜观测样本材料，得到扫描电子显微镜观测图，并计算出样本材料过烧率，分别获得每个样本材料的能量衰减率曲线，并对其进行直线拟合，得出每个样本材料的声衰减系数即拟合直线的斜率k，以样本为依据，建立该批次所有样本材料过烧率与声衰减系数k的拟合方程；最后测出该批次待测材料的声衰减系数k，并根据已建立的拟合方程，推算待测材料的过烧率。本发明对镁合金过烧缺陷程度评估时，不会对被检测材料造成破坏，是一种基于声发射技术的镁合金过烧缺陷的评估方法。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	湖南;43
申请人：	长沙理工大学
发明人：	王向红;杨胜;周小杰;胡宏伟;易可夫
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-19T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-25T00:00:00+0800
申请号：	CN201910207539.7
公开号：	CN109932427A
分类号：	G01N29/14(2006.01);G;G01;G01N;G01N29
申请人地址：	410114 湖南省长沙市天心区万家丽南路2段960号
主权项：	1.一种基于声发射技术的镁合金过烧缺陷评估方法，其特征在于包括以下步骤： (a)首先准备一定数量热处理后的镁合金材料作为样本，接收传感器采用相同型号的声发射传感器分开布置，测量断铅模拟激励信号在样本材料中的能量衰减率； (b)将声发射检测后的镁合金样本材料做好标记，在扫描电子显微镜下放大观察，得到扫描电子显微镜观测图，根据扫描电子显微镜观测图中过烧区域灰度值，统计出过烧区域面积，计算出样本材料过烧率； (c)分别获得每个样本材料的能量衰减率曲线，并对其进行直线拟合，得出每个样本材料的声衰减系数即拟合直线的斜率k； (d)以样本为依据，建立该批次所有样本材料声衰减系数k与过烧率之间的关系，采用直线拟合，获得所有样本材料过烧率与声衰减系数k的拟合方程； (e)利用声发射设备测出待测镁合金材料的声衰减系数k1，根据步骤(d)中获得的过烧率与声衰减系数k的拟合方程，从而推算出待测材料的过烧率。 2.如权利要求1所述一种基于声发射技术的镁合金过烧缺陷评估方法，其特征在于，所述步骤(a)、(e)中的声发射设备，主要包括声发射传感器，耦合剂，声发射信号处理系统，前置放大器；一个传感器采集激励信号，其它传感器作为接收传感器，均通过耦合剂与试件接触，传感器经过前置放大器与计算机相连。 3.如权利要求1所述一种基于声发射技术的镁合金过烧缺陷评估方法，其特征在于，能量衰减率的计算公式为：α＝20log(Em/E1)，式中：E1为传感器1所采集信号的能量值，Em为传感器m所采集信号的能量值；离断铅点最近的为传感器1，m表示接收传感器的编号，该编号从2开始，数量由试件的大小决定。 4.如权利要求1所述一种基于声发射技术的镁合金过烧缺陷评估方法，其特征在于，在扫描电子显微镜下所观察的镁合金样本材料区域的数量至少大于1，具体数量由所要求的过烧率精度决定，扫描电子显微镜观察区域越多，过烧率准确性越高。 5.如权利要求1所述一种基于声发射技术的镁合金过烧缺陷评估方法，其特征在于，所述步骤(a)、(e)中的声发射传感器粘贴于镁合金试件上侧，S1～Sm代表传感器1～m；S1～Sm传感器的粘贴位置是在镁合金试件中心线上，S1～Sm两两间隔为30mm～40mm，同时，S1、Sm传感器与其直线边际的距离至少大于30mm。
所属类别：	发明专利