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原文传递一种判断各向异性纳米晶体择优取向性组装结果的方法

专利名称：	一种判断各向异性纳米晶体择优取向性组装结果的方法
摘要：	本发明涉及材料产品电镜测试技术领域，公开了一种判断各向异性纳米晶体择优取向性组装结果的方法，包括：(1)通过透射电子显微镜获得纳米晶体形貌图片，确定其不同晶体取向的三维形貌信息；(2)获取不同晶体取向的纳米晶体的高分辨透射电子显微镜图片，确定不同晶体取向的晶体结构信息；(3)获得各个晶体取向重复排列的纳米晶体组装体的电子衍射信息，建立电子衍射信息与优势晶面排列信息间的对应关系；(4)通过电子衍射分析获得待测纳米晶体组装体的电子衍射信息，依据该电子衍射信息判断该待测纳米晶体组装体的优势晶体取向，从而判断其纳米晶体择优取向性组装结果。本发明的方法可利用透射电子显微镜快速地判断组装方向及组装趋势。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	浙江;33
申请人：	浙江大学
发明人：	陈芳;丁晓坤;裘雅渔;姜茂蔚
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-15T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-21T00:00:00+0800
申请号：	CN201910197202.2
公开号：	CN109916928A
代理机构：	杭州天勤知识产权代理有限公司
代理人：	胡红娟
分类号：	G01N23/04(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	310013 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
主权项：	1.一种判断各向异性纳米晶体择优取向性组装结果的方法，其特征在于，包括以下步骤： (1)通过透射电子显微镜获得纳米晶体形貌图片，确定纳米晶体不同晶体取向的三维形貌信息； (2)在纳米晶体不同晶体取向的三维形貌信息确定的基础上，获取不同晶体取向的纳米晶体的高分辨透射电子显微镜图片，确定不同晶体取向的晶体结构信息； (3)对一晶体取向重复排列的纳米晶体组装体进行电子衍射分析，结合不同晶体取向的晶体结构信息，获得各个晶体取向重复排列的纳米晶体组装体的电子衍射信息，建立电子衍射信息与优势晶面排列信息间的对应关系； (4)通过电子衍射分析获得待测纳米晶体组装体的电子衍射信息，依据该电子衍射信息判断该待测纳米晶体组装体的优势晶体取向，从而判断其纳米晶体择优取向性组装结果。 2.根据权利要求1所述的判断各向异性纳米晶体择优取向性组装结果的方法，其特征在于，步骤(1)包括： (1-1)采用溶剂将提纯后的纳米晶体粒子分散，滴在铜网上并干燥； (1-2)将铜网安装在透射电子显微镜的样品杆上，插入透射电子显微镜镜筒内； (1-3)调整焦距和像散保持图像清晰，选择合适区域拍摄纳米晶体的形貌图像，获得纳米晶体不同晶体取向的三维形貌信息。 3.根据权利要求2所述的判断各向异性纳米晶体择优取向性组装结果的方法，其特征在于，步骤(1-3)中，选择性使用样品杆倾转功能，获得纳米晶体在不同所选角度下的形貌变化，反推确定不同晶体取向的三维形貌。 4.根据权利要求3所述的判断各向异性纳米晶体择优取向性组装结果的方法，其特征在于，使用样品杆倾转功能包括： (a)选定合适的拍摄区域并定位； (b)将样品杆按照一定步长倾斜，重新调整焦距和像散，拍摄得到一系列不同角度下的纳米晶体形貌图片，确定纳米晶体的三维形貌信息。 5.根据权利要求1所述的判断各向异性纳米晶体择优取向性组装结果的方法，其特征在于，步骤(2)包括： (2-1)在透射电子显微镜成像模式下，选定包含有择优取向性重复排列的纳米晶体组装体，获得其高分辨透射电子显微镜图片，获取晶面间距数据； (2-2)将所述的高分辨透射电子显微镜图片区域进行电子衍射操作，获得电子衍射图并分析该取向的晶体结构信息； (2-3)对每一晶体取向的纳米晶体进行相同分析，获得不同晶体取向的晶体结构信息。 6.根据权利要求5所述的判断各向异性纳米晶体择优取向性组装结果的方法，其特征在于，步骤(2-2)中，通过倾转角调节保证该晶体取向的投射面晶带轴与入射电子束垂直。 7.根据权利要求5所述的判断各向异性纳米晶体择优取向性组装结果的方法，其特征在于，步骤(2-2)中，获得衍射图后，标定衍射斑点，对非原点对称的两组衍射斑点进行指数叉乘得到正空间的晶带轴指数，根据该晶体结构计算出与该晶带轴指数垂直的晶面指数。 8.根据权利要求1所述的判断各向异性纳米晶体择优取向性组装结果的方法，其特征在于，步骤(3)包括： (3-1)获取一晶体取向重复排列的纳米晶体组装体的选区电子衍射图； (3-2)将所述选区电子衍射图转化为对应的XRD衍射谱图； (3-3)根据所述的选区电子衍射图和XRD衍射谱图获得该晶体取向重复排列的纳米晶体组装体的电子衍射信息，建立电子衍射信息与优势晶面排列信息间的对应关系。 9.根据权利要求8所述的判断各向异性纳米晶体择优取向性组装结果的方法，其特征在于，步骤(3-2)中，利用软件将所述选区电子衍射图转化为对应的XRD衍射谱图。
所属类别：	发明专利