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一种超滑基本结构及用于测试固体超滑摩擦系数的装置
| 专利名称： | 一种超滑基本结构及用于测试固体超滑摩擦系数的装置 |
| 摘要： | 本发明提供了一种超滑基本结构及用于测试固体超滑摩擦系数的器件。超滑基本结构包括基底和位于基底上的多个岛状结构，其中，每个岛状结构包括岛盖和具有原子级光滑表面的岛体，所述岛盖位于岛体的上表面，岛盖的上表面设置有连接单元，所述连接单元与推动部件可分离地连接。用于测试固体超滑摩擦系数的装置包括推动部件和所述超滑基本结构，通过所述连接单元与推动部件可分离地连接，能更好地固定岛体，并能够更加灵活、准确地控制岛体的移动，提高了超滑器件摩擦系数的测试效率，另外，连接单元与推动部件之间脱离方便，实现了超滑岛体的重复利用，简化了操作步骤，大大降低了测试成本。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京清正泰科技术有限公司 |
| 发明人： | 杨德智;张清卿 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-03-26T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-06-28T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910233578.4 |
| 公开号： | CN109946226A |
| 代理机构： | 北京中政联科专利代理事务所(普通合伙) |
| 代理人： | 陈超 |
| 分类号： | G01N19/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N19 |
| 申请人地址： | 100084 北京市海淀区清华大学学研大厦B座705 |
| 主权项： | 1.一种超滑基本结构，包括基底和位于基底上的多个岛状结构，其中，每个岛状结构包括岛盖和具有原子级光滑表面的岛体，所述岛盖位于岛体的上表面，其特征在于，岛盖的上表面设置有连接单元，所述连接单元与推动部件可分离地连接。 2.根据权利要求1所述的超滑基本结构，其特征在于，所述连接单元与推动部件的尖端可分离地连接。 3.根据权利要求1所述的超滑基本结构，其特征在于，所述推动部件为微型机械手。 4.根据权利要求1所述的超滑基本结构，其特征在于，所述原子级光滑表面为岛体的下表面。 5.根据权利要求1所述的超滑基本结构，其特征在于，所述岛体的材质为石墨、二硫化钼、云母或硅；所述岛盖的材质为二氧化硅。 6.根据权利要求1所述的超滑基本结构，其特征在于，所述连接单元的中心与岛盖上表面的中心之间的距离小于所述连接单元的中心与岛盖上表面的邻近的边沿之间的距离，优选地，所述连接单元的中心与岛盖上表面的中心重合。 7.根据权利要求1-6任一项所述的超滑基本结构，其特征在于，所述连接单元为凹坑，所述凹坑的底部尺寸小于等于顶部尺寸。 8.根据权利要求7所述的超滑基本结构，其特征在于，所述凹坑的纵向截面为V形、梯形或矩形。 9.一种用于测试固体超滑摩擦系数的装置，其特征在于，包括推动部件和权利要求1-8所述的超滑基本结构。 10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述超滑基本结构的连接单元与推动部件的尖端可分离地连接。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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