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原文传递用于确定检测器单元的剩余运行时段的方法

专利名称：	用于确定检测器单元的剩余运行时段的方法
摘要：	本发明涉及一种用于确定用在辐射测量、密度或填充水平测量仪器(2)中的具有光电倍增管(12)的检测器单元(1)的剩余运行时段(ΔtB，r)的方法。根据本发明，该方法涉及在至少一个预定的周期(dt)内记录光电倍增管的控制电压(Va)，基于在预定的周期(dt)期间记录的控制电压(Va)来确定相对于时间的变化函数(dVa/dt)，并且通过时间变化函数(dVa/dt)和在当前操作时间(tB，a)处占优的当前控制电压(Va，a)来计算直到到达最大控制电压(Va，max)之前的剩余运行时段(ΔtB，r)。根据本发明的方法提供了估计检测器单元(1)的剩余运行时段(ΔtB，r)的可能性，并因此及时地发现什么时间需要执行所需的维护措施，特别是什么时间需要执行与老化相关的更换光电倍增管(12)。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	德国;DE
申请人：	恩德莱斯和豪瑟尔欧洲两合公司
发明人：	哈特穆特·达姆;姜明政;纳西斯·米歇尔·尼茨基厄加德乌;西蒙·魏登布鲁赫
专利状态：	有效
申请日期：	2017-10-10T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-09T00:00:00+0800
申请号：	CN201780069946.5
公开号：	CN109997030A
代理机构：	中原信达知识产权代理有限责任公司
代理人：	穆森;戚传江
分类号：	G01N23/207(2006.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	德国毛尔堡
主权项：	1.一种用于确定用于辐射测量、密度或填充水平测量装置(2)的检测器单元(1)的剩余运行时段(ΔtB，r)的方法，其中，所述检测器单元(1)包括至少一个具有可控放大因子(A)的光电倍增管(12)，其中，所述检测器单元(1)还包括控制评估单元(13)，其中，所述控制评估单元(13)利用控制电压(Va)以使放大因子(A)例如是恒定的方式来控制所述光电倍增管(12)，并且其中，所述方法包括如下方法步骤： -在至少一个预定的时间段(dt)内记录控制电压(Va)， -基于在所述预定的时间段(dt)内记录的控制电压(Va)来确定时间变化率函数(dVa/dt)， -利用所述时间变化率函数(dVa/dt)和当前运行时间(tB，a)处存在的当前控制电压(Va，a)来计算直到达到最大控制电压(Va，max)为止的剩余运行时间(ΔtB，r)。 2.根据权利要求1所述的方法，其中，利用控制电压(Va)在所述预定的时间段(dt)内的回归来确定变化率函数(dVa/dt)。 3.根据权利要求2所述的方法，其中，最小二乘法被应用用于执行所述回归和/或用于确定合适的回归类型。 4.根据权利要求1、2或3所述的方法，其中，所述控制电压(Va)被记录为温度补偿的。 5.根据权利要求1至4中的至少一项所述的方法，其中，所述预定的时间段(dt)在所述检测器单元(1)的整个运行时间上延伸到所述当前运行时间(tB，a)。 6.根权利要求1至4中的至少一项所述的方法，其中，所述预定的时间段(dt)是恒定的并且终止于所述当前运行时间(tB，a)。 7.根据前述权利要求中的至少一项所述的方法，其中，当所述变化率函数(dVa/dt)的至少一个参数改变超过预定义的极限值时，或者当所述变化率函数(dVa/dt)的回归类型改变时，创建报告。 8.根据前述权利要求中的至少一项所述的方法，其中，至少在所述预定的时间段(dt)内，以预定的时间间隔、尤其以大于一天的时间间隔，来执行记录控制电压(Va)。 9.一种用于辐射测量、密度或填充水平测量装置(2)的检测器单元，所述检测器单元用于执行前述权利要求中的至少一项所述的方法，包括： -闪烁体(11)， -光电倍增管(12)，所述光电倍增管(12)与所述闪烁体(11)光学耦合并具有可控的放大因子(A)，以及 -控制评估单元(13)。 10.根据权利要求9所述的检测器单元，其中，所述控制评估单元(13)执行记录控制电压(Va)和/或确定时间变化率函数(dVa/dt)和/或计算剩余运行时段(ΔtB，r)。 11.根据权利要求9或10所述的检测器单元，还包括： -显示单元，所述显示单元用于显示剩余运行时段(ΔtB，r)。
所属类别：	发明专利