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一种同位素测定样品痕量取样及包埋器具
| 专利名称： | 一种同位素测定样品痕量取样及包埋器具 |
| 摘要： | 本实用新型涉及一种同位素测定样品痕量取样及包埋器具，包括痕量样品提取匙和封装包埋器两个器具，痕量样品提取匙为匙部、包埋盒槽部的一体结构，封装包埋器包括压板、左内压档、右内压档、高内压楔和低内压楔结构，本发明实现稳定同位素测定样本痕量样品的便捷、精准地提取以及封装包埋，解决现行实验工具难以简便、快捷且精准地提取痕量样品，导致多次重复提取、称量痕量样品过程中产生的称量偏差、样品被污染等问题；解决现行实验工具因多次重复痕量提取、称量样品，以及封装包埋工具缺乏，导致实验成本及其时间成本被增加的问题。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 上海海洋大学 |
| 发明人： | 林东明;陈新军;宣思鹏;韩飞;韦记朋 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2018-09-27T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-07-09T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201821583586.9 |
| 公开号： | CN209085974U |
| 分类号： | G01N1/08(2006.01);G;G01;G01N;G01N1 |
| 申请人地址： | 201306 上海市浦东新区沪城环路999号 |
| 主权项： | 1.一种同位素测定样品痕量取样及包埋器具，包括痕量样品提取匙和封装包埋器两个器具，所述痕量样品提取匙为匙部、包埋盒槽部的一体结构，所述封装包埋器包括压板、左内压档、右内压档、高内压楔和低内压楔结构，所述压板一面上固定有左内压档、右内压档、高内压楔和低内压楔，用于封装包埋盒，另一面为全平面设计，用于压实包埋盒。 2.根据权利要求1所述的一种同位素测定样品痕量取样及包埋器具，其特征在于，所述的匙部为细杆状延长型，长约50.0mm，直径1.5mm；所述匙部的末端为圆形的浅凹槽，直径1.5mm，最大槽深0.3mm。 3.根据权利要求1所述的一种同位素测定样品痕量取样及包埋器具，其特征在于，所述的包埋盒槽部为扁平延长型，长约60.0mm，宽约11.0mm，厚约3.0mm；所述包埋盒的末端中部为开放式长方形凹槽，用于置入并托稳包埋盒，凹槽长约15.0mm，槽宽约5.0mm，槽深约1.8mm。 4.根据权利要求1-3任一所述的一种同位素测定样品痕量取样及包埋器具，其特征在于，所述的压板长约20.0mm，宽约10.5mm，厚约0.6mm。 5.根据权利要求4所述的一种同位素测定样品痕量取样及包埋器具，其特征在于，所述的左、右内压档用于内压包埋盒的窄边框，档高约3.0mm，基部宽约3.5mm，厚约0.5mm，内侧为1/4圆弧结构，半径3.0mm。 6.根据权利要求5所述的一种同位素测定样品痕量取样及包埋器具，其特征在于，所述的高、低内压楔用于内压包埋盒的宽边框，高内压楔高约2.5mm，基部宽约3.0mm，楔斜角约45°；低内压楔高约1.8mm，基部宽约3.0mm，楔斜角约30°。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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