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原文传递基于双核处理器的工件表面质量检测系统

专利名称：	基于双核处理器的工件表面质量检测系统
摘要：	本实用新型公开了一种基于双核处理器的工件表面质量检测系统，其包括依次相连的图像采集模块、数据交互模块及图像处理模块；所述图像采集模块包括面阵CCD相机、图像采集卡、计算机、光源控制器、光源、数据采集卡、位移传感器、延时器、信号处理电路以及接近传感器，所述图像采集卡、光源控制器、数据采集卡及延时器分别与所述计算机相连，所述图像采集卡与所述面阵CCD相机相连，所述光源控制器与所述光源相连，所述数据采集卡与所述位移传感器相连，所述延时器、信号处理电路及接近传感器依次相连；所述数据交互模块为千兆EMAC接口；所述图像处理模块为包含ARM子系统和DSP子系统的双核处理器。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	福建;35
申请人：	厦门福信光电集成有限公司
发明人：	洪亚德;洪雅婧;刘俊强
专利状态：	有效
申请日期：	2018-09-26T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-09T00:00:00+0800
申请号：	CN201821571823.X
公开号：	CN209086165U
代理机构：	厦门致群专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	刘兆庆;邓贵琴
分类号：	G01N21/89(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	361000 福建省厦门市思明区软件园观日路30号204单元
主权项：	1.基于双核处理器的工件表面质量检测系统，用于对输送带上的工件进行表面质量检测，其特征在于：包括依次相连的图像采集模块、数据交互模块及图像处理模块；所述图像采集模块包括面阵CCD相机、图像采集卡、计算机、光源控制器、光源、数据采集卡、位移传感器、延时器、信号处理电路以及接近传感器，所述图像采集卡、光源控制器、数据采集卡及延时器分别与所述计算机相连，所述图像采集卡与所述面阵CCD相机相连，所述光源控制器与所述光源相连，所述数据采集卡与所述位移传感器相连，所述延时器、信号处理电路及接近传感器依次相连；所述数据交互模块为千兆EMAC接口；所述图像处理模块为包含ARM子系统和DSP子系统的双核处理器。 2.如权利要求1所述的基于双核处理器的工件表面质量检测系统，其特征在于：所述双核处理器为DM6467处理器。 3.如权利要求1所述的基于双核处理器的工件表面质量检测系统，其特征在于：所述光源为环形光源，所述环形光源与所述面阵CCD相机同轴分布，且位于所述面阵CCD相机与输送带之间；沿输送带输送方向，所述位移传感器位于所述面阵CCD相机的成像区域的前端的正上方，所述接近传感器位于所述位移传感器的前端。 4.如权利要求1所述的基于双核处理器的工件表面质量检测系统，其特征在于：所述接近传感器包括光纤式光电传感器、与所述光电传感器相连的聚焦光纤以及连接在所述聚焦光纤前端的聚光透镜。 5.如权利要求1所述的基于双核处理器的工件表面质量检测系统，其特征在于：所述信号处理电路包括单片机及编码器，所述编码器为74LS148编码器，所述74LS148编码器的A引脚、B引脚或C引脚与所述接近传感器的输出端相连，所述74LS148编码器的GS引脚与所述单片机的中断请求引脚相连。 6.如权利要求5所述的基于双核处理器的工件表面质量检测系统，其特征在于：所述延时器为凌华PCI8554定时卡。 7.如权利要求1所述的基于双核处理器的工件表面质量检测系统，其特征在于：所述图像采集卡为Camera Link图像采集卡。 8.如权利要求1所述的基于双核处理器的工件表面质量检测系统，其特征在于：所述数据采集卡为Adlink PCI 911 HR数据采集卡。
所属类别：	实用新型