专利名称: |
一种凹阵相控阵探测仪以及探测系统 |
摘要: |
本发明公开一种凹阵相控阵探测仪,包括至少两个相控阵探头、超声波检测仪以及控制终端,每一所述相控阵探头均包括多个晶片,每一所述相控阵探头上的多个所述晶片均依次连接形成凹状检测面,各所述相控阵探头环绕待测的柱状工件设置,形成容纳所述柱状工件的检测孔,各所述相控阵探头上的晶片拼接形成封闭检测面,各所述相控阵探头均与所述超声波检测仪电连接,所述超声波检测仪与所述控制终端电连接。本发明提供的凹阵相控阵探测仪检测柱面工件的检测效率高。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
湖北;42 |
申请人: |
武汉中科创新技术股份有限公司 |
发明人: |
林光辉;韩志雄;桂琳琳;金耀辉;信章春;赵亚军 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-04-01T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-07-16T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910257402.2 |
公开号: |
CN110018238A |
代理机构: |
武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
黄君军 |
分类号: |
G01N29/04(2006.01);G;G01;G01N;G01N29 |
申请人地址: |
430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷七路126号超声波自动检测设备及UT研发中心建设项目综合楼1-6层 |
主权项: |
1.一种凹阵相控阵探测仪,其特征在于,包括至少两个相控阵探头、超声波检测仪以及控制终端,每一所述相控阵探头均包括多个晶片,每一所述相控阵探头上的多个所述晶片均依次连接形成凹状检测面,各所述相控阵探头环绕待测的柱状工件设置,形成容纳所述柱状工件的检测孔,各所述相控阵探头上的晶片拼接形成封闭检测面,各所述相控阵探头均与所述超声波检测仪电连接,所述超声波检测仪与所述控制终端电连接。 2.根据权利要求1所述的凹阵相控阵探测仪,其特征在于,相邻两个所述相控阵探头沿所述柱状工件的长度方向交错布置,相邻两个所述相控阵探头的部分晶片沿所述柱状工件的周向重叠设置。 3.根据权利要求1所述的凹阵相控阵探测仪,其特征在于,每一所述相控阵探头的晶片均形成圆弧状检测面,所有所述相控阵探头的晶片拼接形成圆形检测面。 4.根据权利要求1所述的凹阵相控阵探测仪,其特征在于,所述控制终端为计算机。 5.一种凹阵相控阵探测系统,其特征在于,包括如权利要求1-3任一所述凹阵相控阵探测仪,还包括用于传输柱状工件的传输辊道以及驱动电机,所述柱状工件穿设于所述传输辊道内,所述传输辊道与所述驱动电机传动连接,所述驱动电机与控制器电连接,所述控制器与所述控制终端电连接。 6.根据权利要求5所述的凹阵相控阵探测系统,其特征在于,所述控制器为PLC控制器。 7.根据权利要求5所述的凹阵相控阵探测系统,其特征在于,还包括编码器,所述编码器安装于所述所述传输辊道上,所述编码器与所述控制器电连接。 8.根据权利要求5所述的凹阵相控阵探测系统,其特征在于,还包括辅助定位装置,所述相控阵探头安装于所述辅助定位装置上,所述辅助定位装置用于移动所述相控阵探头。 |
所属类别: |
发明专利 |