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原文传递探测仪以及探测方法

专利名称：	探测仪以及探测方法
摘要：	公开一种探测仪，包括：支架；针孔准直器，设于支架上；放射源，设于所述针孔准直器的焦点部上，放射源用于自焦点部连续发射光子对，光子对包括探测光子和位置分辨光子，探测光子和位置分辨光子的发射方向相反，探测光子发射至待探测物体上发生散射生成散射光子；位置灵敏探测器，设于针孔准直器大端的端面上，用于探测预设能量的所述位置分辨光子并生成位置信号；散射探测器，设于所述支架上，用于探测预设能量范围内的所述散射光子，其中，所述散射探测器的探头轴线与所述针孔准直器的轴线之间的夹角为钝角。该探测器提高了所探测散射光子事件的数量和能量，使得能量分辨率、信噪比和总探测效率均得到大大提高。还公开一种探测方法。
专利类型：	发明专利
申请人：	北京格物时代科技发展有限公司
发明人：	曹文田
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T00:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T19:00:00+0805
申请号：	CN202010133684.8
公开号：	CN111175326A
代理机构：	北京工信联合知识产权代理有限公司
代理人：	白晓晰
分类号：	G01N23/20066;G01T1/29;G;G01;G01N;G01T;G01N23;G01T1;G01N23/20066;G01T1/29
申请人地址：	102600 北京市大兴区黄村镇兴华大街(二段)13号院4号楼5层511室
主权项：	1.一种探测仪，其特征在于，包括：支架；针孔准直器，设于所述支架上；放射源，设于所述针孔准直器的焦点部上，所述放射源用于自所述焦点部连续发射光子对，所述光子对包括探测光子和位置分辨光子，所述探测光子和位置分辨光子的发射方向相反，所述探测光子发射至待探测物体上发生散射生成散射光子；位置灵敏探测器，设于所述针孔准直器大端的端面上，用于探测预设能量的所述位置分辨光子并生成位置信号；散射探测器，设于所述支架上，用于探测预设能量范围内的所述散射光子，其中，所述散射探测器的探头轴线与所述针孔准直器的轴线之间的夹角为钝角。 2.根据权利要求1所述的探测仪，其特征在于，所述针孔准直器的的大端相对所述焦点部远离所述散射探测器。 3.根据权利要求1所述的探测仪，其特征在于，还包括屏蔽板，所述屏蔽板设于所述位置灵敏探测器和所述散射探测器之间，用于屏蔽放射源射出的光子。 4.根据权利要求1所述的探测仪，其特征在于，还包括信号采集和处理系统，所述信息采集和处理系统分别与所述位置灵敏探测器以及散射探测器电性连接。 5.根据权利要求4所述的探测仪，其特征在于，所述位置灵敏探测器的探头由分立晶体制成，所述探头上设有多个像素点，光子发射至像素点上，从而形成光子的位置信号。 6.根据权利要求4所述的探测仪，其特征在于，所述位置灵敏探测器的探头由连续晶体制成，所述信号采集和处理系统包括两个脉冲幅度变换器，两个所述脉冲幅度变换器用于将来自所述位置灵敏探测器的位置信号进行模数转换，从而形成数字模式的位置信号。 7.根据权利要求1至6任一项所述的探测仪，其特征在于，所述放射源为正电子放射源；所述预设能量的位置分辨光子的能量值为E，490keV＜E≤511keV，所述预设能量范围为250keV～E。 8.一种探测方法，其特征在于，包括：放射源连续发射光子对，所述光子对包括探测光子和位置分辨光子，所述探测光子和位置分辨光子的发射方向相反，所述探测光子发射至待探测物体上发生散射生成散射光子，并使得光子的散射形成前角区散射；对所述散射光子进行探测，以及对所述位置分辨光子进行探测，并根据对所述散射光子的探测结果以及对所述位置分辨光子的探测结果，生成所述待探测物体的图像。 9.根据权利要求8所述的探测方法，其特征在于，对所述散射光子进行探测，以及对所述位置分辨光子进行探测，并根据对所述散射光子的探测结果以及对所述位置分辨光子的探测结果，生成所述待探测物体的图像包括：对所述散射光子进行探测，若探测到预设能量范围内的所述散射光子，则生成开门信号ts；对所述位置分辨光子进行探测，在生成开门信号ts后，在时间窗Δt内，若探测到预设能量的所述位置分辨光子则生成事件信号te，则判定所述开门信号ts与所述事件信号te符合，并根据对探测到的所述位置分辨光子的探测结果，得到相应一组位置信号；重复上述步骤，得到多组所述位置信号，并根据多组所述位置信号生成所述待探测物体图像。 10.根据权利要求8或9所述的探测方法，其特征在于，所述放射源为正电子放射源，所述光子为伽马光子；所述预设能量的位置分辨光子的能量值为E，490keV＜E≤511keV，所述预设能量范围为250keV～E。
所属类别：	发明专利