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原文传递 通用气体光谱分析装置及气体光谱分析系统
专利名称: 通用气体光谱分析装置及气体光谱分析系统
摘要: 本发明提供一种气体光谱分析系统及一种通用气体光谱分析装置,该通用气体光谱分析装置包括盖体组件、光谱分析组件及设有一开放端口的外壳,盖体组件的一端滑动设置于外壳内,盖体组件的另一端盖合于该外壳的端口处,光谱分析组件安装于盖体组件;本发明通过将光谱分析组件安装于盖体组件,并使盖体组件与外壳形成抽拉式结构,从而在装配时,依次完成光谱分析组件和盖体组件装配后,再将盖体组件推入外壳内,使盖体组件和外壳形成一个可以用于密封待测气体的密封腔体;而当维修时,可以将盖体组件拉出外壳,再对内部光谱分析组件进行维修,等维修好后,再将盖体组件推入外壳内;如此,即方便了安装又方便了维修,同时本发明体积小,便于携带。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 广东;44
申请人: 高利通科技(深圳)有限公司
发明人: 苑高强;刘民玉
专利状态: 有效
申请日期: 2018-01-08T00:00:00+0800
发布日期: 2019-07-16T00:00:00+0800
申请号: CN201810016677.2
公开号: CN110018124A
代理机构: 深圳市合道英联专利事务所(普通合伙)
代理人: 廉红果;侯峰
分类号: G01N21/25(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址: 518110 广东省深圳市龙华区观澜街道观光路1301号银星科技大厦9楼D906、D907、D909、D910、D911号
主权项: 1.一种通用气体光谱分析装置,其特征在于,包括盖体组件、光谱分析组件及一具有开放端口的外壳,所述盖体组件的一端滑动设置于所述外壳内,所述盖体组件的另一端盖合于所述外壳的端口处,所述光谱分析组件安装于所述盖体组件。 2.根据权利要求1所述的通用气体光谱分析装置,其特征在于,所述盖体组件包括前盖、支柱和后盖,所述支柱的两端分别与所述前盖和后盖固定连接,所述后盖和所述支柱滑动设置于所述外壳内,所述前盖和所述外壳的端口可拆卸连接;所述光谱分析组件设置于所述前盖和所述后盖。 3.根据权利要求2所述的通用气体光谱分析装置,其特征在于,所述光谱分析组件包括入射光耦合接头、出射光耦合接头、透光窗口、第一反射镜、第二反射镜和第三反射镜,所述透光窗口安装于所述前盖,所述入射光耦合接头和出射光耦合接头分别设置于所述透光窗口的外侧,所述第一反射镜和第三反射镜分别安装于所述后盖,所述第二反射镜安装于所述前盖的内侧,所述入射光耦合接头用于将光源产生的光线耦合射入所述光谱分析组件,所述光源产生的光线依次经所述第一反射镜、第二反射镜和第三反射镜的反射后由所述出射光耦合接头耦合射出。 4.根据权利要求2所述的通用气体光谱分析装置,其特征在于,所述盖体组件还包括密封圈,所述密封圈设置于所述前盖与所述外壳的端口之间,所述密封圈用于密封所述外壳与所述前盖的连接处。 5.根据权利要求2所述的通用气体光谱分析装置,其特征在于,所述前盖上设置有进气接头和出气接头。 6.根据权利要求1至5其中任一项所述的通用气体光谱分析装置,其特征在于,还包括加热器,所述加热器设置于所述外壳外表面。 7.一种气体光谱分析系统,其特征在于,包括权利要求1至权利要求6任一项所述的通用气体光谱分析装置,还包括光源、光谱仪及控制模块,所述光源用于产生光线,所述通用气体光谱分析装置用于增加该光线在该通用气体光谱分析装置内的气体中的光程,该光线经所述通用气体光谱分析装置内的气体吸收后输出至所述光谱仪,所述光谱仪和所述控制模块相连,所述光谱仪用于测出被所述通用气体光谱分析装置内的气体吸收后的光线的光谱,所述控制模块用于分析所述通用气体光谱分析装置内的气体的性质。
所属类别: 发明专利
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