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原文传递 一种特定气体源成分光谱分析方法及装置
专利名称: 一种特定气体源成分光谱分析方法及装置
摘要: 本发明公开了一种特定气体源成分光谱分析方法及装置,其方法是将已知特定气体源的光谱分解为多个已知光谱的线性组合,利用多个光波长同时测量出该种被测特定气体源的气体组成成分的方法。其装置包括用于采集被测特定气体源的气室,气室设置有进气口和出气口,气室的前方设置有用于发出光谱连续光信号的光源,并且气室的前端面开有使光信号进入气室内的光信号进孔,气室的后端面开有使进入气室内的光信号输出的光信号输出孔;气室的后方设有用于接收从光信号输出孔输出的光信号的光电检测系统。本发明的方法没有气体间干扰,能同时测量气体中所有成分,其装置携带方便,制造成本低,能直接在现场对被测特定气体源进行实时监测。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 江苏;32
申请人: 南京工程学院
发明人: 张健;余辉龙;覃翠;赵静;魏峘;刘伟伟
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201811136934.2
公开号: CN108872097A
代理机构: 南京钟山专利代理有限公司 32252
代理人: 戴朝荣
分类号: G01N21/27(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/27
申请人地址: 211167 江苏省南京市江宁区科学园弘景大道1号
主权项: 1.一种特定气体源成分光谱分析方法,其特征是:将已知特定气体源的光谱分解为多个已知光谱的线性组合,利用多个光波长同时测量出该种被测特定气体源的气体组成成分;其方法为:假设特定气体源的组成成分为由N种气体组成,每一种气体的光谱为Pn(n=1,ΛN),则被测特定气体源的光谱能表示为其中,P为被测特定气体源的光谱,kn为第n种气体的体积比,对每一种气体成分的光谱经过在不同波长上的采样,能表示为:令:Q=[P1 P2 L PN]   4则式1可以表示为P=QK   6其中向量P可以通过测量得到,Pn是确定的光谱,能事先测量得到;通过求解方程6就能得到kn的值,通过kn值的大小即能确定被测特定气体源中各种气体组成的成分和所占体积比;第n种气体所占的体积比为
所属类别: 发明专利
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