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原文传递一种二极管芯片表面质量检测设备

专利名称：	一种二极管芯片表面质量检测设备
摘要：	本实用新型公开了一种二极管芯片表面质量检测设备，包括二极管芯片输送流水线、保护壳体、光源、摄像机、透镜、遮光板，流水线为PVC透明输送带，保护壳体固定于地面，穿过流水线设置，所述光源、摄像机、透镜、遮光板相对固定的设置在保护壳体内部，分别组成第一检测系统和第二检测系统，分别位于流水线的上下两侧，第二检测系统位于第一检测系统后方工序的方向，摄像机与外部计算机通过线束相连，光源由外部电源供电。本检测设备通过上下相错开的两个检测系统实现对二极管芯片的全面表面检测，采用CCD摄像机成像和LED光源照明，成像质量高，外部计算机控制设备工作，本检测设备的检测效率高，适用于自动化流水线的工作模式。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	山东;37
申请人：	青岛金汇源电子有限公司
发明人：	李德鹏
专利状态：	有效
申请日期：	2018-12-11T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-23T00:00:00+0800
申请号：	CN201822072921.5
公开号：	CN209148559U
分类号：	G01N21/89(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	266000 山东省青岛市黄岛区滨海大道南山川路东(黄岛区委党校)
主权项：	1.一种二极管芯片表面质量检测设备，包括二极管芯片输送流水线(1)、保护壳体(7)、光源、摄像机、透镜、遮光板，其特征在于，位于检测工位的所述二极管芯片输送流水线(1)为PVC材质的透明输送带，所述保护壳体(7)固定于地面，穿过二极管芯片输送流水线(1)设置，所述光源、摄像机、透镜、遮光板均相对固定的设置在保护壳体(7)内部，所述光源包括第一光源(2)、第二光源(5)、第三光源(12)、第四光源(9)，所述摄像机包括第一摄像机(4)和第二摄像机(10)，所述透镜包括第一透镜(3)和第二透镜(11)，所述遮光板包括第一遮光板(13)和第二遮光板(6)；所述的第一透镜(3)、第一光源(2)、第二光源(5)、第一摄像机(4)、第一遮光板(13)组成第一检测系统，第一透镜(3)设置于二极管芯片输送流水线(1)的上方，正对二极管芯片(8)所要经过的路线上，所述第一透镜(3)上方设置有第一摄像机(4)，所述第一光源(2)和第二光源(5)设置在第一透镜(3)的左右两侧的偏下方位置，第一光源(2)和第二光源(5)在二极管芯片输送流水线(1)上的照明点位于第一透镜(3)的正下方，位于所述第一摄像机(4)和第一透镜(3)正下方，且二极管芯片输送流水线(1)的下方设置有第一遮光板(13)；所述的第二透镜(11)、第三光源(12)、第四光源(9)、第二摄像机(10)、第二遮光板(6)组成第二检测系统，第二检测系统位于第一检测系统的后序工序的方向，所述第二透镜(11)设置于二极管芯片输送流水线(1)的下方，正对二极管芯片(8)所要经过的路线上，所述第二透镜(11)下方设置有第二摄像机(10)，所述第三光源(12)和第四光源(9)设置在第二透镜(11)的左右两侧的偏上方位置，第三光源(12)和第四光源(9)在二极管芯片输送流水线(1)上的照明点位于第二透镜(11)的正上方，位于所述第二摄像机(10)和第二透镜(11)正上方，且二极管芯片输送流水线(1)的上方设置有第二遮光板(6)；所述第一遮光板(13)和第二遮光板(6)的表面上涂覆有一层纳米级的不规则粗糙颗粒，所述第一摄像机(4)和第二摄像机(10)与外部计算机通过线束相连，所述第一光源(2)、第二光源(5)、第三光源(12)、第四光源(9)均由外部电源供电和控制其开关。 2.根据权利要求1所述的一种二极管芯片表面质量检测设备，其特征在于，所述二极管芯片(8)是呈一定间隔距离依次经过保护壳体(7)内部的，相邻二极管芯片(8)的间隔大于第一检测系统与第二检测系统的中心距离。 3.根据权利要求1所述的一种二极管芯片表面质量检测设备，其特征在于，所述第一摄像机(4)和第二摄像机(10)选用面阵CCD摄像机，所述第一光源(2)、第二光源(5)、第三光源(12)和第四光源(9)同时均选用荧光灯、卤素灯、卤素金属蒸汽灯、LED灯、红外线或者紫外线中的一种。 4.根据权利要求1所述的一种二极管芯片表面质量检测设备，其特征在于，所述外部计算机内设置有图像采集卡，由第一摄像机(4)和第二摄像机(10)所得的图像经过图像采集卡输入计算机的系统中。
所属类别：	实用新型