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原文传递芯片检测设备

专利名称：	芯片检测设备
摘要：	本实用新型公开并提供了一种结构简单、设计合理、测试速度快和效率高的芯片检测设备。本实用新型包括控制系统、安装平台和由下至上依次设置在安装平台上的产品下针模组机构、下压机构以及三轴传动CCD检测机构，下针模组机构包括产品定位板，产品定位板上设置有针板压块，针板压块上设置有产品放置通槽和与产品定位板相适配的让位通槽，产品适配设置在产品放置通槽和产品定位板上，产品放置通槽的底部设置有扫描枪，下压机构包括纵向滑动组件和下压测试气缸，三轴传动CCD检测机构包括三轴传动组件和CCD相机，下压测试气缸和CCD相机位均与产品定位板相配合，CCD相机和扫描枪均与控制系统电连接。本实用新型可用于芯片测试的技术领域。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳市芬能自动化设备有限公司
发明人：	吴钦昌
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201820099959.9
公开号：	CN207976405U
代理机构：	广州市红荔专利代理有限公司 44214
代理人：	王贤义
分类号：	G01N21/84(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/84
申请人地址：	518131 广东省深圳市龙华新区观澜大道观湖南大富社区虎地排村118号锦绣科学园9栋1、2层
主权项：	1.一种芯片检测设备，其特征在于：它包括控制系统、安装平台（1）和由下至上依次设置在所述安装平台（1）上的产品下针模组机构（2）、下压机构（3）以及三轴传动CCD检测机构（4），所述下针模组机构（2）包括产品定位板（21），所述产品定位板（21）上设置有针板压块（22），所述针板压块（22）上设置有产品放置通槽（23）和与所述产品定位板（21）相适配的让位通槽（24），产品适配设置在所述产品放置通槽（23）和所述产品定位板（21）上，所述产品放置通槽（23）的底部设置有扫描枪（25），所述下压机构（3）包括纵向滑动组件和设置在所述纵向滑动组件上的下压测试气缸（31），所述三轴传动CCD检测机构（4）包括三轴传动组件和设置在所述三轴传动组件上的CCD相机（41），所述下压测试气缸（31）和所述CCD相机（41）位均与所述产品定位板（21）相配合，所述CCD相机（41）和所述扫描枪（25）均与所述控制系统电连接。
所属类别：	实用新型