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原文传递一种芯片样点检测设备

专利名称：	一种芯片样点检测设备
摘要：	本实用新型提供了一种芯片样点检测设备，涉及芯片检测技术领域，包括底板，所述底板顶端的一侧安装有原料腔，所述底板上方的前端安装有合格腔，所述合格腔的一侧设置有缺陷腔，所述底板上方的后端安装有安装架，所述安装架的顶端安装有控制器，所述安装架的底端安装有摄像组件，所述底板的顶端设置有上下料机构；通过在底板的上方设置有上下料机构，利用上下料机构的相互配合，通过设置有三个检测箱，在摄像组件对一个芯片进行检测时，可利用机械手对检测完成的芯片进行下料，并对其进行分类，还可利用机械手对待检测芯片进行上料处理，使得该设备对芯片进行持续性检测处理，从而大大提高了该设备在使用时的工作效率。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	上海;31
申请人：	上海宇思微电子有限公司
发明人：	刘伟杰
专利状态：	有效
申请日期：	2023-06-16T00:00:00+0800
发布日期：	2023-11-14T00:00:00+0800
申请号：	CN202321539427.X
公开号：	CN220019359U
代理机构：	上海江浦众创专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	王淼
分类号：	G01N21/01;G01N21/84;B07C5/02;B07C5/342;B07C5/36;G;B;G01;B07;G01N;B07C;G01N21;B07C5;G01N21/01;G01N21/84;B07C5/02;B07C5/342;B07C5/36
申请人地址：	200131 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼
主权项：	1.一种芯片样点检测设备，包括底板（1），其特征在于：所述底板（1）顶端的一侧安装有原料腔（2），所述底板（1）上方的前端安装有合格腔（3），所述合格腔（3）的一侧设置有缺陷腔（4），所述底板（1）顶端的另一侧安装有旋转板（5），所述旋转板（5）的顶端安装有检测箱（6），所述检测箱（6）的下方设置有旋转机构，所述底板（1）上方的后端安装有安装架（7），所述安装架（7）的顶端安装有控制器（8），所述安装架（7）的底端安装有摄像组件（9），所述底板（1）的顶端设置有上下料机构；所述上下料机构包括第一伺服电机（10）、安装柱（11）、安装腔（12）、气缸（19）、机械手（20）和移动结构，所述第一伺服电机（10）安装于底板（1）的内部，所述安装柱（11）安装于底板（1）的顶端，所述第一伺服电机（10）的输出端与安装柱（11）的一端连接，所述安装柱（11）一侧的安装有安装腔（12），所述安装腔（12）的内部设置有移动结构，所述移动结构的下方安装有气缸（19），所述气缸（19）的底端安装有机械手（20）。 2.根据权利要求1所述的一种芯片样点检测设备，其特征在于：所述移动结构包括第二伺服电机（13）、第一锥形齿轮（14）、第二锥形齿轮（15）、螺纹杆（16）、螺纹套（17）、活动腔（18）和限位结构，所述第二伺服电机（13）安装安装腔（12）下方的一侧，所述第二伺服电机（13）安装于安装腔（12）内部的底端，所述第二伺服电机（13）的输出端与第一锥形齿轮（14）的一端连接，所述第一锥形齿轮（14）的一侧啮合有第二锥形齿轮（15），所述第二锥形齿轮（15）的一侧安装有螺纹杆（16），所述螺纹杆（16）的外侧壁设置有螺纹套（17），所述螺纹套（17）的外侧壁固定安装有活动腔（18），所述活动腔（18）的一端与气缸（19）的一端连接。 3.根据权利要求2所述的一种芯片样点检测设备，其特征在于：所述限位结构包括限位杆（21）和限位套（22），所述限位杆（21）安装于安装腔（12）内部的下方，所述限位杆（21）的外侧壁设置有限位套（22），所述限位套（22）的顶端与活动腔（18）的底端连接。 4.根据权利要求3所述的一种芯片样点检测设备，其特征在于：所述限位杆（21）的横截面小于限位套（22）的横截面，所述限位杆（21）与限位套（22）之间构成滑动结构。 5.根据权利要求1所述的一种芯片样点检测设备，其特征在于：所述旋转机构包括第三伺服电机（23）、主动齿轮（24）和从动齿轮（25），所述第三伺服电机（23）安装于底板（1）的内部，所述第三伺服电机（23）的输出端安装有主动齿轮（24），所述主动齿轮（24）的一侧啮合有从动齿轮（25），所述从动齿轮（25）的顶端与旋转板（5）的底端相互连接。 6.根据权利要求5所述的一种芯片样点检测设备，其特征在于：所述主动齿轮（24）的横截面小于从动齿轮（25）的横截面，所述主动齿轮（24）带动从动齿轮（25）做减速运动。
所属类别：	实用新型