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一种图像灰度法粒子Zeta电位分析方法
| 专利名称： | 一种图像灰度法粒子Zeta电位分析方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种图像灰度法粒子Zeta电位分析方法，包括以下步骤：1)将被测样品在介质中混合均匀后，送入带有正负电极的样品池中；2)给样品池中的电极施加电压，产生规定强度的电场；3)带电的颗粒在电场的作用下定向移动；4)用光源、镜头、相机组成的成像系统拍摄样品池，在相机拍摄的图像上体现为图像灰度的变化；5)将相机拍摄的图像按固定时间间隔传给计算机进行处理分析。本发明方法不需要拍摄颗粒的真实图像，是根据图像灰度变化来计算颗粒的Zeta电位，可以实现微米级以下到纳米级颗粒的Zeta电位分析，解决了以往的显微图像法无法分析微米级以下到纳米级颗粒的不足。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 辽宁;21 |
| 申请人： | 丹东百特仪器有限公司 |
| 发明人： | 范继来;李闯;陈权;刘越强 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-05-07T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-07-23T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910376618.0 |
| 公开号： | CN110044992A |
| 代理机构： | 沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙) |
| 代理人： | 李晓光 |
| 分类号： | G01N27/447(2006.01);G;G01;G01N;G01N27 |
| 申请人地址： | 118009 辽宁省丹东市边境合作区金泉工业区甘泉路9号 |
| 主权项： | 1.一种图像灰度法粒子Zeta电位分析方法，其特征在于：包括以下步骤： 1)将被测样品在介质中混合均匀后，送入带有正负电极的样品池中； 2)给样品池中的电极施加电压，产生规定强度的电场； 3)带电的颗粒在电场的作用下定向移动； 4)用光源、镜头、相机组成的成像系统拍摄样品池，在相机拍摄的图像上体现为图像灰度的变化； 5)将相机拍摄的图像按固定时间间隔传给计算机进行处理分析。 2.根据权利要求1所述的图像灰度法粒子Zeta电位分析方法，其特征在于：步骤5)中，将相机拍摄的图像按固定时间间隔传给计算机进行处理分析，具体为： 501)每张灰度图像的时间间隔已知，用数字图像处理算法分析出灰度移动的距离，得到颗粒的运动速度； 502)颗粒的运动速度求出后，根据现有的Zeta电位公式计算出颗粒的Zeta电位数值； 503)用数字图像处理算法分析一系列灰度变化的图像，得出灰度运动的方向； 504)施加电场电压的正、负极是已知的，根据异性相吸、同性相斥的原理得出颗粒所带电位的符号，是正电位或负电位。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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