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一种基于透射结构光的缺陷检测方法
| 专利名称： | 一种基于透射结构光的缺陷检测方法 |
| 摘要： | 一种基于透射结构光的缺陷检测方法，用于检测高透射率被测物体的缺陷。首先产生条纹结构光投射到被测物体表面，条纹结构光透射经过被测物体后产生变形条纹结构光；采集变形条纹结构光，并利用调制度技术将采集到的光强图转换为调制度图；结合后续算法可得到被测物体的表面缺陷信息。此方法尤其适用于大尺寸大曲率玻璃盖板的缺陷检测。与反射系统相比，本发明提出的透射系统消除了寄生条纹的影响，提升了采集图像的条纹对比度，提高了原始图像的信噪比，改善了测量结果。整个检测流程中，不需要复杂的标定过程，也不需要积分重建出物体的高度信息，避免了积分算法带来的误差，具有快速、易操作、简单实用的特点。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 四川;51 |
| 申请人： | 电子科技大学 |
| 发明人： | 岳慧敏;黄易杨;方宇耀;刘永 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-05-05T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-07-26T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910367328.X |
| 公开号： | CN110057841A |
| 代理机构： | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) |
| 代理人： | 葛启函 |
| 分类号： | G01N21/958(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号 |
| 主权项： | 1.一种基于透射结构光的缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测方法用于检测高透射率被测物体的表面缺陷，包括如下步骤： 步骤一、产生条纹结构光投射到被测物体表面，所述条纹结构光透射经过被测物体后产生变形条纹结构光； 步骤二、采集所述变形条纹结构光； 步骤三、将采集到的变形条纹结构光的光强图转换为调制度图； 步骤四、根据所述调制度图得到被测物体的表面缺陷信息。 2.根据权利要求1所述的基于透射结构光的缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤一产生相移条纹结构光投射到被测物体表面，相移条纹结构光的光强为： 其中δn为相移大小，为初始相位分布，A(x,y)是背景光强，B(x,y)表示条纹对比度； 所述步骤二采集的所述变形条纹结构光的光强为： 其中为由被测物体折射引入的附加相位； 所述步骤三根据基于N步相移的调制度分析法将采集到的变形条纹结构光的光强图转换为调制度图，调制度 根据变形条纹结构光的光强I'n(x,y)得到透射情况下调制度为： 其中β为被测物体的透射率，Imax(x,y)为所述步骤一中产生的相移条纹结构光的光强最大值，Imin(x,y)为所述步骤一中产生的相移条纹结构光的光强最小值。 3.根据权利要求1所述的基于透射结构光的缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤三中将光强图转换为调制度图使用的调制度方法还包括基于傅里叶变换的调制度分析法和基于时间傅里叶变换的调制度分析法。 4.根据权利要求1至3任一项所述的基于透射结构光的缺陷检测方法，其特征在于，产生条纹结构光的结构光照明模块、被测物体和采集变形条纹结构光的图像采集模块设置在同一条光轴线上。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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