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原文传递一种基于透射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法

专利名称：	一种基于透射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法
摘要：	本发明提供了一种基于透射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法，其配置简单、检测方便，可避免传统方案繁琐的打光验证试验，待检玻璃样品通过面阵相机成像，所得图像中的待检玻璃样品被结构光光源调制，进而获得条纹调制度分布图和相位分布图，通过条纹调制度分布图和相位分布图可实现增强各种玻璃内外部的瑕疵，从而实现了面阵探测，提高了瑕疵检测效率。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	江苏;32
申请人：	苏州天准科技股份有限公司
发明人：	骆聪;袁春辉;杨鹏
专利状态：	有效
申请日期：	2019-05-05T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-19T00:00:00+0800
申请号：	CN201910368959.3
公开号：	CN110031483A
代理机构：	苏州国诚专利代理有限公司
代理人：	王丽
分类号：	G01N21/958(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	215163 江苏省苏州市高新区培源路5号
主权项：	1.一种基于透射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法，其特征在于：其包括如下步骤： S1、面阵相机设置于待检玻璃样品上方，调整所述面阵相机与待检玻璃样品之间的距离，以使得所述面阵相机对所述待检玻璃样品清晰成像； S2、结构光光源设置于所述待检玻璃样品的正下方，所述结构光光源上的光强呈条纹分布； S3、所述结构光光源的结构光条纹沿法向平移，平移距离为所述结构光光源周期的1/N，N＝3,4,5……； S4、所述面阵相机对所述待检玻璃样品成像，所得图像中的待检玻璃样品被所述结构光光源调制，使得待检玻璃样品图像上出现明显的条纹结构； S5、重复N次所述步骤S3和S4，获得N幅调制后的待检玻璃样品图像，记图像为Ij(j＝1,2,3，…N)；随后根据获得的N幅图像通过N步相移算法计算出每个像素的条纹调制度和调制相位，获得条纹调制度分布图和相位分布图，通过条纹调制度分布图和相位分布图实现了玻璃瑕疵的检测。 2.根据权利要求1所述的一种基于透射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法，其特征在于：所述结构光光源的光强呈正弦型、矩形、锯齿形或者其他形式的周期条纹分布。 3.根据权利要求1所述的一种基于透射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法，其特征在于：所述条纹的平移次数大于3次，所述条纹为等间距或变间距平移。 4.根据权利要求1所述的一种基于透射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法，其特征在于：所述结构光光源通过液晶显示器产生，所述液晶显示器放置于所述待检玻璃样品下方一定离焦距离处，并满足由所述面阵相机和结构光光源构成的成像系统对此位置的空间分辨率低于所述结构光光源周期的1/2。 5.根据权利要求1所述的一种基于透射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法，其特征在于：所述结构光光源通过投影仪投影至毛玻璃上产生，所述毛玻璃放置于所述待检玻璃样品下方一定离焦距离处，并满足由所述面阵相机和结构光光源构成的成像系统对此位置的空间分辨率低于所述结构光光源周期的1/2，所述投影仪位于所述毛玻璃下方；所述毛玻璃表面的微结构尺寸不大于所述面阵相机在所述毛玻璃表面的分辨率。
所属类别：	发明专利