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一种基于反射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法
| 专利名称： | 一种基于反射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法 |
| 摘要： | 本发明提供了一种基于反射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法，其配置简单、检测方便，不仅瑕疵增强效果明显，且可实现面阵检测，待检玻璃样品通过成像模组成像，所得图像中的待检玻璃样品被结构光光源调制，进而获得调制度分布图和相位梯度分布图，通过调制度分布图和相位梯度分布图可实现增强各种玻璃内外部的瑕疵，从而实现了面阵探测，提高了瑕疵检测效率。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 苏州天准科技股份有限公司 |
| 发明人： | 骆聪;袁春辉;杨鹏 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-05-05T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-07-19T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910368957.4 |
| 公开号： | CN110031482A |
| 代理机构： | 苏州国诚专利代理有限公司 |
| 代理人： | 王丽 |
| 分类号： | G01N21/958(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 215163 江苏省苏州市高新区培源路5号 |
| 主权项： | 1.一种基于反射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法，其特征在于：其包括如下步骤： S1、结构光光源设置于待检玻璃样品上方，所述结构光光源上的光强呈条纹分布，所述待检玻璃样品放置于运动扫描机构上； S2、成像模组安装于所述待检玻璃样品斜上方，调节所述成像模组的镜头，以使其对所述待检玻璃样品清晰成像； S3、所述结构光光源的结构光条纹沿法向平移，平移距离为所述结构光光源周期的1/N，N＝3,4,5…； S4、所述成像模组对所述待检玻璃样品成像，所得图像中的所述待检玻璃样品被所述结构光光源调制，使得所述待检玻璃样品图像上出现明显的条纹结构； S5、重复N次所述步骤S3和S4，获得N幅调制后的待检玻璃样品图像，记图像为Ij(j＝1，2，3，…N)；随后根据获得的N幅图像计算出每个像素对应的调制度和相位梯度，获得调制度分布图和相位梯度分布图； S6、通过机器视觉算法或者深度学习算法，分析调制度分布图、相位梯度分布图和原始灰度图之间的特征形式，即可实现玻璃表面瑕疵的全类型检测。 2.根据权利要求1所述的一种基于反射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法，其特征在于：所述步骤S5中，重复4次所述步骤S3和S4，获得4幅调制后的待检玻璃样品图像，记图像为I1、I2、I3、I4，根据获得的4幅图像计算出每个像素对应的调制度和相位梯度，其中，调制度和相位梯度θ的计算公式为： I1＝I0+Icos(θ) I3＝I0+Icos(θ+π) 根据上述公式,I1-I3＝2Icos(θ),I2-I4＝2Isin(θ) 得到 其中，I0为图像光强分布的基频信息，I为图像光强分布中波动信息的幅值。 3.根据权利要求1所述的一种基于反射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法，其特征在于：所述结构光光源的光强呈正弦型、矩形、锯齿形或者其他形式的周期条纹分布。 4.根据权利要求1所述的一种基于反射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法，其特征在于：所述条纹的平移次数大于3次，所述条纹为等间距或变间距平移。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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