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一种基于方波结构的结构光照明瑕疵检测方法
| 专利名称： | 一种基于方波结构的结构光照明瑕疵检测方法 |
| 摘要： | 本发明提供了一种基于方波结构的结构光照明瑕疵检测方法，其通过将产生的方波信号转换为正弦信号的叠加，并使成像模组对结构光光源的空间分辨率低于方波信号空间周期T的1/2，即可使待检玻璃样品图像仅受一阶正弦信号调制，此时，方波结构光照明形式就等价于是正弦结构光照明形式，也就实现了正弦结构光的照明效果，从而降低了对照明光源的要求，也提高了瑕疵检测效率。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 苏州天准科技股份有限公司 |
| 发明人： | 骆聪;袁春辉;杨鹏 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-05-05T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-07-05T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910368956.X |
| 公开号： | CN109975324A |
| 代理机构： | 苏州国诚专利代理有限公司 |
| 代理人： | 王丽 |
| 分类号： | G01N21/958(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 215163 江苏省苏州市高新区培源路5号 |
| 主权项： | 1.一种基于方波结构的结构光照明瑕疵检测方法，其特征在于：其包括以下步骤： S1、成像模组设置于待检玻璃样品上方，调整所述成像模组与所述待检玻璃样品之间的距离，以使得所述成像模组对所述待检玻璃样品清晰成像； S2、结构光光源设置于所述待检玻璃样品的下方，所述结构光光源处于离焦状态，所述结构光光源的光强呈周期性的方波条纹分布，根据傅里叶变换原理，将周期性的方波信号转换为正弦信号的叠加： 其中，T为方波信号的空间周期；n＝1，2…N，αn表示第n阶条纹的幅值； S3、根据所述步骤S2中的公式，所述成像模组采集到的所述待检玻璃样品图像表示为： 其中，mn表示为由所述成像模组和结构光光源构成的离焦光学系统对n阶正弦信号的调制度；I0为图像亮度的直流分量；I为一阶正弦信号的强度； 当一阶正弦信号的空间频率为f0时，所述结构光光源对二阶及以上正弦信号的调制度mn为0，则所述成像模组采集到的所述待检玻璃样品图像表示为：也就是当所述成像模组对所述结构光光源的空间分辨率低于方波信号空间周期T的1/2时，所述待检玻璃样品图像仅受一阶正弦信号I调制，从而同样实现正弦结构光的照明。 2.根据权利要求1所述的一种基于方波结构的结构光照明瑕疵检测方法，其特征在于：所述结构光光源通过液晶显示器、LED阵列、异形面光源或者其他多形式的光源产生，所述结构光光源放置于所述待检玻璃样品下方一定离焦距离处，并满足由所述成像模组和结构光光源构成的成像系统对此位置的空间分辨率低于所述结构光光源周期的1/2。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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