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一种流式样品多波长荧光检测方法
| 专利名称： | 一种流式样品多波长荧光检测方法 |
| 摘要： | 一种流式样品多波长荧光检测方法，包括，使激光经过二向色镜进入物镜镜头后聚焦照射到样品池上；样品池中的荧光样品流经激光焦斑时发射多波长荧光，多波长荧光由聚焦物镜镜头收集后，依次穿过二向色镜、长通滤光片、光栅，在光学成像仪上形成一个零级光斑和若干个一级条纹；根据光学成像仪记录的荧光零级光斑和一级条纹，测量计算荧光样品的各发射光谱和浓度。本发明的方法，仅需一个光学检测器即可实现流式样品的多波长荧光检测，避免了以往使用多个光学检测器造成的仪器体积过大和灵敏度不够高的问题。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 江苏师范大学 |
| 发明人： | 盖宏伟;田文韬 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-04-26T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-07-26T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910343195.2 |
| 公开号： | CN110057798A |
| 分类号： | G01N21/64(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 221000 江苏省徐州市铜山区上海路101号 |
| 主权项： | 1.一种流式样品多波长荧光检测方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：使激光经过二向色镜进入物镜镜头后聚焦照射到样品池上； S2：样品池中的荧光样品流经激光焦斑时发射多波长荧光，多波长荧光由聚焦物镜镜头收集后，依次穿过二向色镜、长通滤光片、光栅，在光学成像仪上形成一个零级光斑和若干个一级条纹； S3：根据光学成像仪记录的荧光零级光斑和一级条纹，测量计算荧光样品的各发射光谱和浓度。 2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的样品为流动样品，所述样品池为样品流动池，样品流动池为毛细管或微通道，样品流动方向与激光照射方向垂直。 3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述样品流动池的横截面形状为圆形、方形、或梯形，所述样品流动池的材质为玻璃、石英或高聚物。 4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述样品流动池的横截面长度、宽度或直径在1微米～3毫米之间。 5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，多波长荧光样品是单一样品标记多波长荧光探针或混合样品分别标记不同波长的荧光探针。 6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述二向色镜和长通滤光片之间还具有反射镜和狭缝。 7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光栅为透射光栅或反射光栅，光栅常数为30～1000线/毫米。 8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述激光激发是单束激光激发或多束激光同时激发。 9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光学成像仪为电感耦合器件或互补金属氧化物半导体传感器。 10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤S3具体包括：根据光学成像仪记录的荧光零级光斑和一级条纹，通过分别测量零级光斑与各一级条纹的距离以及各一级条纹的强度分布测定荧光样品的多个发射光谱；通过测定对应一级条纹的强度测定荧光物质浓度。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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